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[参考译文] CC1101:CC1101频率移动为30kHz

Guru**** 2551110 points
Other Parts Discussed in Thread: CC1101

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/sub-1-ghz-group/sub-1-ghz/f/sub-1-ghz-forum/575907/cc1101-cc1101-frequency-shift-of-30khz

部件号:CC1101

我的其中一台包含CC1101的设备出现问题。 设备安装在客户处,但无法通过CC1101进行通信。

现在我在办公室有了它,我可以确认我没有与我的设置进行通信(BR=19.2Kbps,dev=11.1kHz,RXBW=58kHz)。 然后我尝试将接收器的带宽增加到100kHz,但仍然没有看到任何输入的数据包。 通过RXBW=200kHz,我终于获得了输入的数据。

然后,我使用 Sub-1 GHz RF频谱分析仪工具比较了读数设备和被测设备的RF频率(没有其他可用的工具),发现被测设备的中心频率为~433,72 MHz,读数设备为所需的433,75 MHz。 所以我经历了30kHz的转换。

在制作过程中,我们没有任何顾虑,沟通是可能的,也是良好的。

我也尝试重新编程MPU,但没有任何变化。

我们使用15ppm的晶体,所以我预计频率ffset最多为6.5kHz。

这些是对讲机设置:

{ CC1101_IOCFG2,0x06 },// IOCFG2 GDO2输出配置
{ CC1101_IOCFG1, 0x2E }// IOCFG1 GDO1输出配置
{ CC1101_IOCFG0,0x07 },// IOCFG0 GDO0输出配置
{ CC1101_FIFO,0x4F },// FIFO RX FIFO和TX FIFO阈值
{ CC1101_SYNC1, 0xD3 },// SYNC1 同步字,高字节
{ CC1101_SYNC0, 0x91 },// SYNC0 同步Word,低字节
{ CC1101_PKTLEN, 0x3D }// PKTLEN 数据包长度
{ CC1101_PKTCTRL1, 0x0C },// PKTCTRL1 0x0C:自动刷新打开,附加状态,无地址检查
{ CC1101_PKTCTRL0,0x45 },// PKTCTRL0 数据包自动化控制
{ CC1101_ADDR, 0x01 },// ADDR 设备地址
{ CC1101_CHANNR, 0x02},// CHANNR 通道号
{ CC1101_FSCTRL1, 0x06},// FSCTRL1 频率合成器控制
{ CC1101_FSCTRL0, 0x00 },// FSCTRL0 频率合成器控制
{ CC1101_FREQ2, 0x10 },// FREQ2 频率控制字,高字节
{ CC1101_FREQ1, 0xA9 },// FREQ1 频率控制字,中间字节
{ CC1101_FREQ0, 0xD8 },// FREQ0 频率控制字,低字节
{ CC1101_MDMCFG4,0xF9 },// MDMCFG4 调制解调器配置
{ CC1101_MDMCFG3,0x83 },// MDMCFG3 调制解调器配置
{ CC1101_MDMCFG2,0x13 },// MDMCFG2 调制解调器配置
{ CC1101_MDMMCFG1, 0x23 },// MDMMCFG1 调制解调器配置
{ CC1101_MDMCFG0,0x3B },// MDMCFG0 调制解调器配置
{ CC1101_DEVIATN, 0x26 },// DEVIATN 调制解调器偏差设置
{ CC1101_MCSM2, 0x07 },// MCSM2 主无线电控制状态机配置
{ CC1101_MCSM1, 0x2C },// MCSM1 0x3c:CCA模式;TX后空闲;RX后保持
RX { CC1101_MCSM0, 0x18 },// MCSM0 主无线电控制状态机配置
{ CC1101_FOCCFG, 0x16 }// FOCCFG. 频率偏移补偿配置
{ CC1101_BSCFG, 0x6C },// BSCFG 位同步配置
{ CC1101_AGCCTRL2, 0x43},// AGCCTRL2 AGC控制
{ CC1101_AGCCTRL1, 0x60 },// AGCCTRL1. AGC控制
{ CC1101_AGCCTRL0, 0x91},// AGCCTRL0 AGC控制
{ CC1101_WOREVT1, 0x80 },// WOREVT1. 高字节事件0超时
{ CC1101_WOREVT0, 0x00 },// WOREVT0 低字节事件0超时
{ CC1101_WORCTRL, 0xF0},// WORCTRL 无线电控制唤醒
{ CC1101_FREND1, 0x56 },// FREND1 前端RX配置
{ CC1101_FREND0, 0x10 },// FREND0 前端TX配置
{ CC1101_FSCAL3, 0xE9 },// FSCAL3 频率合成器校准
{ CC1101_FSCAL2, 0x2A },// FSCAL2 频率合成器校准
{ CC1101_FSCAL1, 0x00 },// FSCAL1. 频率合成器校准
{ CC1101_FSCAL0,0x1F },// FSCAL0 频率合成器校准
{ CC1101_FSTEST, 0x59 },// FSTEST 频率合成器校准控制
{ CC1101_ptest, 0x7f },// ptest 生产测试
{ CC1101_AGCTEST, 0x3F },// AGCTEST AGC测试
{ CC1101_TEST2, 0x81 },// TEST2 各种测试设置
{ CC1101_TEST1, 0x35 },// TEST1 各种测试设置
{ CC1101_TEST0, 0x09 },// TEST0 各种测试设置
{ CC1101_PATABLE, 0xC0 },// PATABLE +10dBm 

对这个问题有什么想法和建议?

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    RF源自晶体频率,如果您测量到-30 kHz偏移,则使用"15 ppm"晶体时,晶体负载电容器的值过高。 然后,第一步是固定频率偏移。
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    那么,这种沟通在几个月前确实按预期工作,然后再也不能工作了,这又怎么可能呢?
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    Manuel

    该芯片使用PLL生成与参考频率有数学关系的射频,因此唯一可以更改的是参考频率(XTAL)。 有多种因素可用于XTAL频率准确度。

    • 一批新的XTAL,调整方式与以前略有不同。
    • PCB工艺问题:
    • 清洁流程在PCB装配车间进行(如果它们从活性清洗流程变为无清洁助焊剂流程)
    • 一批新的负载电容器也会影响调谐。

    此致,
    /TA

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    同意Thomas的评论。 还有一件事与水晶有关。

    假设初始设计使用了指定用于16 pF负载的晶体。 现在,如果下一次生产运行使用指定10 pF负载(例如)的晶体,并且您使用相同的负载电容器,则RF频率将会过低。

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    在生产过程中,我们能够与此硬件进行通信,没有任何问题。 我想,如果我们遇到负载不匹配的情况,我们会在这里看到问题吗?
    PCBA清洁是在RF通信测试之前完成的,因此这不应该是问题。
    这是我们发现此问题的1.000 设备中的第一个。

    下周我将尝试更换水晶,看看它是如何工作的...

    一般而言:在生产过程中测量中心频率并补偿该阶段的频率偏移是否是一种好的方法?
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    问:一般来说,在生产过程中测量中心频率并补偿该阶段的频率偏移是否是一种好方法?

    答:是的。 通过这样做,您可以消除由于晶体容差而产生的初始频率误差,只需注意温度变化。 请注意,您测量的频率偏移应在晶体的容差范围内。

    30 kHz约为70 ppm,这是一个非常高的频率偏移。 我假设您现在的测试方式与生产中的测试方式相同吗? (相同固件,相同仪器?)

    您是否能够使用低于1GHz的射频频谱分析仪工具以外的其他工具进行测量? 由于这是基于CC1101,具有相当宽的最小RX BW,因此准确度受到限制。 另一方面,必须增加Rx BW以确认您的测量。

    如果我理解正确,您可以在一台设备上看到此信息。 您是否检查了焊接是否不良? 如果该主板在生产中经过测试并具有正确的输出频率,那么我怀疑它与xtal相关。 但是,您能否检查是否更换了2个负载盖? 如果其中一个发生机械损坏,可能会导致频率偏移。
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    感谢大家的评论。
    很遗憾,我没有必要的仪器来执行测量。

    下周我将首先尝试更换电容器,然后再次检查频率偏移。 之后我将尝试更换晶体。
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    所以,我终于开始测试了。

    1.使用我的CC430频谱分析仪重新检查频率,并获得433.721 MHz的中心频率,而预期为433.75 MHz。

    2.更换电容器后,再次检查中心频率,频率不变。

    3.更换晶体后,突然频率为433.75MHz

    4.再次安装原晶体:F_center = 433.73 MHz

    5.再次更换晶体:F_center = 433.75 MHz

    所以晶体就是原子。 与预期的6.5kHz频率偏移不同,晶体似乎具有>= 20kHz (仍使用CC430频谱分析仪测量)...

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    您测试过的两个xtals之间有什么区别?
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    我将晶体从另一个PCB移到DUT。 两个晶体的类型应该相同,NX2520SA 26MHz 10pF。 电容器值为15pF。

    如果晶体的负载电容不匹配(仍然可能),也可能是DUT晶体的电容器值错误的问题。 但我假设在这种情况下,我们会有更多的故障装置投入使用。
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    奇怪。 20 ppm xtal应在一个方向上最大移动频率8.6 kHz。

    如果我正确地理解了您的设置,您生产了一批具有相同BOM的主板,其中一个主板在现场出现故障。 交换此主板上的xtal后,主板通过。

    我假设主板上失败的xtal来自与所有其他主板相同的卷筒。 如果是这样,听起来好像您得到了一个错误的xtal,如果是这种情况,您应该联系NDK并与他们核实。