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[参考译文] CC1121:测量和放大器;手动调整XTAL错误

Guru**** 2380860 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/sub-1-ghz-group/sub-1-ghz/f/sub-1-ghz-forum/586393/cc1121-measuring-adjusting-xtal-error-manually

部件号:CC1121

在实验中,我想测量并纠正任何32MHz XTAL错误。

(测量RX频率有问题,进入TX模式后TX频率漂移~300Hz。)

从旅行车...

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IOCFG3.GPIO3_CFG = 49;//请参阅 用户指南表10中的EXT_CLOCK
ECG_CFG.EXT_CLOCK_FREQ = 64; 默认除数为64,仅在需要不同除数时才需要更改。

这将在GPIO 3上输出晶体频率/64

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使用频率计数器,这将启用对XTAL误差本身的测量。

那么,如何最好地对设置实际TX/RX频率的PLL应用校正?

是否可以通过应用多个来调整FREQOFF0和FREQOFF1?

是否存在 其他直接影响PLL输入的寄存器?

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    -输入Tx后300 Hz漂移是否有问题? 您需要的准确性如何?
    -您需要多长时间进行测量? 我的第一个想法是,使用频率计数器测量~1 ppm的精度可能需要一些时间。

    找到要使用的测量方法后,您可以将所需的增量频率放置在FREQOFF寄存器中。 影响VCO频率的寄存器显示在用户指南的方程式26和27中。
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    TX频率中的300 Hz漂移对应于0.33 ppm @915 MHz和0.67 @450 MHz,不会降低CC112x的灵敏度。 参考源(晶体或TCXO)引起的错误会导致总频率误差。
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    您好,

    大家一致认为300赫兹的频率非常重要,但它不断漂移,令人不安。

    Chuck创建了一个电子表格来完成这项工作,这真是太棒了。

    虽然直晶体方法有效,但测量周期很小。

    我更喜欢使用RF发生器从校准的输入频率读取FREQ_OFF值。

    但是,我不知道如何使用SmartRF Studio访问该寄存器?

    除了RSSI值之外,是否有其他方法将其包含在每个测试报告字符串中?

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