[参考译文] CC1101：接收范围小于5m 的盲区射频芯片(CC1101)

我假设  这涵盖了您所看到的内容。  

尊敬的 TI 技术人员：

查看 您发送给我的设计手册 DN010后、您可能会认为"饱和限值约为-15dBm"是影响我们产品射频性能的根本原因、您推荐了两种解决方案供我们在发送器侧和接收器侧参考。

然后、按照您的建议、我进行了如下测试、以供您参考、

1)对于"盲区"小于5米范围的缺陷装置、如果我们将发送器放置在非常靠近接收器的位置(例如20cm -30cm)、射频性能非常稳定、我进行了20多次测试、每次测试都成功。 但是、当将发送器置于5m 范围内的其他测试点时、存在"盲区"、在将发送器从"盲区"移出后、射频性能也是稳定性的。

2) 2)我降低了参考发送器中的无线电功率-20dBm、并在上面的项目1中执行了相同的测试、测试结果与项目1相同。

根据上面第1项和第2项的测试结果、根本原因似乎不是"饱和极限"。

如下面所示、请参阅更多信息、

1)这是我们的现有产品、在过去的8年中已经生产、只有很少的投诉与我们的客户一样、但对于我们最近的 PO、缺陷率(短程射频性能较差)接近8%。

2) 2)我曾尝试在868接收器上安装缺陷 CC1101、并进行了射频接收测试、与433接收器相比、我还发现15m - 160m 范围内有许多"盲点"、 868接收器中的"盲点/区域"似乎位于更长的区域。

 非常感谢你的快速答复，谢谢。

-当您的接收效果好而接收效果差时、您有哪一个 RSSI？

您看到的是什么取决于频率？ 您可以尝试向上/向下几个 MHz、看看您是否看到了差异。

-如果将接收器移到另一个位置并重复测试，您是否看到任何差异？  

-我是否理解您的正确：如果您放置了一个故障电路板并测试了它并将其更换为一个良好的电路板，即使您重复测试，结果也将始终相同？

您是否能够进行标度与液位间的关系测量？ 理想情况下、您需要一个信号发生器来执行此测试(而不是通过无线方式)。 为每个步骤发送100个数据包、并查看您在某些输入级别是否遇到大量故障。 我相信我们曾遇到过这样的情况：芯片因损坏而部分损坏了 ESD、从而损坏了 AGC 中的一些增益阶跃。 如果是这种情况、您将看到给定增益级的性能较差。   

尊敬的 TI 技术人员：

有关您的问题，请参阅下面的绿色黄光黄回答

-当您的接收效果好而接收效果差时、您有哪一个 RSSI？

YK:我们正在尝试测试，但目前没有测试结果。

您看到的是什么取决于频率？ 您可以尝试向上/向下几个 MHz、看看您是否看到了差异。

YK:我们的产品的中心频率为433.92MHz，我做了很多测试，将中心频率从+/-5kHz 改为+/-60kHz，在这种宽载波频率下，缺陷单元的“盲区”范围仍小于5m，对于这些好装置，它们的性能仍然很好，没有“盲区”。

-如果将接收器移到另一个位置并重复测试，您是否看到任何差异？  

YK:我们在不同的位置进行了许多测试,例如办公室,一个小的露天场和一个宽阔的露天场,测试结果是相同的,缺陷装置仍然在不同的测试位置有“盲区”,但对于良好的装置,它们仍然是可以的。

-我是否理解您的正确：如果您放置了一个故障电路板并测试了它并将其更换为一个良好的电路板，即使您重复测试，结果也将始终相同？

YK: 为了让你更好地理解，我将缺陷 RF 芯片描述如下，如果我们使用一个好的 RF 芯片来替换一个缺陷单元中的缺陷 RF 芯片，缺陷单元将会改变好的，相反，如果我们在一个好单元中安装一个缺陷 RF 芯片， 良好单元中的射频性能将会发生不良变化。

您是否能够进行标度与液位间的关系测量？ 理想情况下、您需要一个信号发生器来执行此测试(而不是通过无线方式)。 为每个步骤发送100个数据包、并查看您在某些输入级别是否遇到大量故障。 我相信我们曾遇到过这样的情况：芯片因损坏而部分损坏了 ESD、从而损坏了 AGC 中的一些增益阶跃。 如果是这种情况、您将看到给定增益级的性能较差。   

YK:我们根据 您的建议进行了“PER vs level”测试(通过电缆而不是无线方式)，总结如下：  

1) 1)当 RF 水平低于-100dBm 时、缺陷单元和良好单元的 RF GDO0输出异常、  

2) 2)在-100dBm 至20dBm 范围内、GDO0输出在正常状态下正常。

3) 3)在-100dBm 至-95dBm 范围内、GDO0输出在缺陷单元中异常。 (YK:在我看来，这可能是不同射频芯片的耐受性)。

4) 4)在-95dBm 至-69dBm 范围内、GDO0输出在缺陷单元中正常。

5) 5)在-69dBm 至-50dBm 范围内、GDO0输出在缺陷单元中发生不良变化。

6) 6)在-50dBm 至20dBm 范围内、GDO0输出在缺陷单元中变化良好。

测试结果：我们可以看到、当射频信号在-69dBM 至-50dBm 范围内时、缺陷单元中存在明显的"盲区"。

YK:关于您的深入分析结果，可能有些 ESD 部件已对内部射频芯片进行了除雾，从而在 AGC 中引入了一个错误的阶跃增益控制，我认为这可能是一个合理的猜测， 但是、Bellman 公司需要一个真正的根本原因、并经过 TI 的测试和验证。目前、我们已经在这种情况下保持了超过2周的生产、您是否希望通过测试缺陷射频芯片来测试并找到根本原因？ 如果是、我可以向您发送一些缺陷射频芯片、非常感谢。