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[参考译文] TS5A22362:关于开/关泄漏电流的测量电路

Guru**** 2378650 points
Other Parts Discussed in Thread: TS5A22362
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/switches-multiplexers-group/switches-multiplexers/f/switches-multiplexers-forum/1066996/ts5a22362-about-measurement-circuit-of-on-off-leakage-current

部件号:TS5A22362
“线程:测试罢工”中讨论的其它部件

大家好,团队

 

我们想知道接通/断开泄漏电流的详细测量电路。

我知道这是下面的电路。

我的理解是否正确?

 

如果没有,请告诉我们正确的测量电路吗?

 

[我的图片]

 

此致,

隐藏

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    您好,隐藏,

    感谢您提出这个问题-我知道混乱的原因是什么 ,因为测试电路没有显示整个设备甚至所有 I/O 路径。

    我在您标记的测试图像上有一些注释+其他测试的更多信息。

    图像1 - I_NO (关闭)+其他断开泄漏电流 I_NC (关闭)  

    电流表放置在正确的位置,开关对计算开路-电压设置有问题。

    如果 V_NO = 4.5V,则 V_COM = VCC - 5.5V = 0V,或者您可以设置 V_NO = VCC - 5.5V = 0V,然后设置 V_COM = 4.5V。 这是一个微小的差异,但它是为了确保我们也能通过开关切换器捕获由于开关切换开关电压造成的泄漏(这种泄漏的影响应该比温度小得多,但它仍会增加设备的总体泄漏)  

    请注意,I_NC(off)的计算方法与 NC 开关通道开路的计算方法相同  

    图2 -泄漏电流

    一切看起来都是正确的-但是,对于这些测试,要确保 NC 也是浮动的,而不仅仅是为了获得泄漏电流的准确读数。 除此之外,我认为您的测试是正确的

    如果您有任何其他问题,请告诉我!

    最佳

    帕克·多德森。

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    帕克-桑,您好!

     

    感谢您的及时回复和详细信息。

    我知道测量电路是[我的图像(修改版本)]。

     

    我还有一个问题。

    据我了解,通/断泄漏电流(全温度下为±375uA)包含以下元素。

    - NO 和 NC 引脚的泄漏电流(断路开关)

    -其它内部电路的泄漏电流

     

    因此,它是整个设备的漏电流。

    我的理解是否正确?

     

    [我的图像(修改版本)]

     

    此致,

    隐藏

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    您好,隐藏,

    您的修正数字看起来不错!

    您的问题是:漏电不是整个设备的漏电。 关漏电规格是指根据测试条件,一个引脚上的漏电情况。 因此,它试图说,在上述测试条件下,其中一个 NC 或没有针脚的最大泄漏电流超过+/-375nA 的温度。 这意味着,如果两个 NO 或 NC 引脚都关闭,则温度范围内的漏电流总量可以是仅一个引脚的最大规格的两倍,因此,在上述测试条件下,设备的最大漏电流最高可达+/-750nA 温度范围内的漏电,但它呈指数级增长,因此在较低的温度下,漏电将大大降低。  

    如果您有任何其他问题,请告诉我,我将看到我可以做什么!

    最佳

    帕克·多德森

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    帕克-桑,您好!

     

    感谢您的善意支持。

    我还有更多的问题。

     

    我知道其他内部电路(例如内部逻辑针脚等)的泄漏电流,

    这包括在正电流(ICC)中。

    我的理解是否正确?

     

    此致,

    隐藏

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    您好,隐藏,

    此设备上有4个泄漏规格:

    1.模拟输入/输出处漏电关闭(漏电关闭(常闭/常开))  

    2.模拟 I/O 泄漏时(泄漏时(COM))

     3.逻辑(in)引脚泄漏- I_IH 和 I_IL

    4.电源针脚泄漏 —I_CC  

    我有来自5V 电源的数据表摘录,并重点介绍了规格:

    1. I/O 泄漏(这是上面的项目1和2)

    2.数字输入泄漏(上面项目3)

    3.I_CC (上文第4项)  

    如果您有任何其他问题,请告诉我!

    最佳

    帕克·多德森

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    帕克-桑,您好!

    感谢您提供详细信息。

    我非常感谢你的合作。

    此致,

    隐藏

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    帕克-桑,您好!

     

    我对我频繁的联系表示歉意。

    我还有一个问题。

     

    如果 VCC 和 VCOM 之间的电压差较低(或相同电压),INC (关闭)是否会增加?

     

    我们的客户确认 INC (关闭)为30件,条件如下*。

    *它与数据表中的测量条件不同。

     

    因此,TS5A22362 (Device1)的一个 INC (关闭)超过100uA,而其他 IC (29个)为数十个(约10uA 至20uA)。

    但是,根据电压条件,Device1也有不同的 INC (关闭)。

     

    [设备1的测量条件]

    案例1:如果 VCC=VCOM=5V,INC (关闭)大于100uA

    CASE2:如果 VCC =5V,VCOM =4.8V,INC (关闭)为数十(10uA 至20uA)

     

    [结果图像]

     

    我们想知道为什么只有一家公司具有较高的 INC (Off)价值。

    如果您有任何信息,请告诉我们吗?

     

    此致,

    隐藏

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    您好,隐藏,

    您能为我确认以下内容吗:

    1.  此测试的测试设置是什么?
      1. 处的控制电压(INX 引脚处的电压)是多少?
      2. 您测试的温度是多少?
      3. 上的 NC 销电压是多少
      4. 您测量的两个 NC 销是否仅为1个用于测试。
    2. 您测试的第一个部件是否有此问题? 如果是,请测试几个正常的装置,然后重新测试坏的装置,看看问题是否仍然存在?

    一般而言,泄漏来自2个位置:I/O 通道上的 ESD 二极管(这是泄漏的主要来源,因为大多数泄漏都来自此处)和直接通过开关的极小的子阈值泄漏。 如果 VCC 和 V_NC 不变化(因为打开开关时 COM 和 NC 之间的阻抗非常高),200mV 的差值不应大幅增加,因此这是不寻常的。 因此,如果您能回答我的上述问题,以便我完全了解测试设置,并可能重新测试坏设备(在测试了几个好设备后,确保测试设置正常工作),请 查看问题可能是什么(如果有)。

    请告诉我!

    最佳

    帕克·多德森

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    帕克-桑,您好!

     

    我很抱歉。

    我的信息中有错误(漏电流值)。

     

    [异常现象]

    NC1引脚(IOFF (NC1))的漏电流非常高。

    -VCC=5V,VCOM =5V 时约为300至500uA

    -VCC=5V 时约为10uA,VCOM=4.8V

     

    顺便说一句,相同装置的 NC2,No1,NO2的泄漏电流正确(大约10nA)。

    其他装置(29件)的泄漏电流正确无误。

     

     

    我确认了测试条件。

    请参阅[测试条件]。

     

    [您的问题]

    1.  此测试的测试设置是什么?
      1. 处的控制电压(INX 引脚处的电压)是多少? -> 5V
      2. 您测试的温度是多少? ->约25
      3. 位于->的 NC 针脚电压是多少?请勿确认 NC1针脚电压
      4. 测量两个 NC 针脚是否仅为1进行测试。->NC1泄漏电流异常,其它针脚(NC2,No1,NO2)电流正确(约10nA)
    2. 您测试的第一个部件是否有此问题? 如果是,请测试几个正常的装置,然后重新测试坏的装置,看看问题是否仍然存在?

    ->”NC1引脚的漏电流为300至500uA”始终得到确认,因此问题仍在发生。

     

    [测试条件]

     

    我知道 NC1引脚的漏电流异常。

    我的理解是否正确?

     

    我想知道这个原因。

    (例如,NC1针脚损坏等)

    请告诉我们您的意见。

     

    此致,

    隐藏

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    您好,隐藏,

    NC1针脚上的电压将对那里的泄漏值产生影响。 可以测量这一点吗? 在 NC1断开泄漏电流期间,测试条件对 NC1有电压。

    关于损坏-可能存在损坏,但使用当前信息有点难确定损坏是什么或损坏是如何造成的。 它似乎无法正常工作。 但以下信息将非常有用:

    1.在断开泄漏测试期间,我确实需要 NC 针脚上的电压,因为这是由规格决定的-我需要确认正在使用类似的设置,以便我有一个应该发生的情况的基准。

    2.除漏电之外是否还有其他性能问题-测试期间意外瞬变或 ESD 冲击过大导致的 EOS 可能导致损坏,但通常会产生比仅仅更高的影响更大的影响。 一项有用的测试是查看关断隔离是否低于预期值,同时还可以查看开关在关断状态下的隔离程度。  

    因此,这似乎有点偏离了零件的作用,但我确实需要 NC1引脚的电压才能使该引脚泄漏 (如果它是浮动的,这不是我们的规范所寻找的,因为我们只在泄漏电流测量过程中使用开路配置)。 此外,此引脚上对该部件性能的其他影响将有助于指出是否有损坏。

    请告诉我!

    最佳

    帕克·多德森

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    帕克-桑,您好!

    非常感谢你的帮助。

    收到新信息后,我会再次与您联系。

    此致,

    隐藏

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    您好,隐藏,

    没问题。 如果您对此主题有后续问题,如果您能在需要时开始新的话题继续讨论,那将会非常好。 这是因为这些线程最终会锁定,我不希望您被锁定,因此,如果您提出新问题,如果对此有更多问题,您可以重新链接到此问题。

    最佳

    帕克·多德森

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    帕克-桑,您好!

    感谢您的始终如一的支持。

    我理解。

    此致,

    隐藏

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    谢谢隐藏!