[参考译文] MUX36D04：最大限度降低泄漏电流

您好、Tony、

1、关断泄漏测试设置如下所示：

导通泄漏电流：

对于您有关 ID (on)+与 ID (on)的具体问题-  如果您查看泄漏测量设置、则仅连接了 VD -但数据表中的测量条件指定了一个+VD 和-VD 值-其中 ID (on)+具有 VD =+VD (数据表中指定的任何内容) ID (on)-具有 VD =-VD。 但是、我要说、输入电压是总泄漏的一小部分、因为它主要取决于温度(典型输入电压对泄漏具有多项式影响(典型的线性、但可能更高阶)、而温度依赖性是指数性的。 根据数据表上的图形、在40C 时、ID (on)+最有可能出现更少的泄漏、因为在数据表中的两个图形中、ID (on)-在该点开始呈下降趋势。

2.正确-保护二极管是泄漏的主要来源。 至于进入电源轨以确保更少泄漏的一个好点-由于温度依赖性、很难诚实地说-但是、如果您查看下面的一个简单模型、您可以看到影响泄漏的是什么 (泄漏时)

为了帮助简化这一过程、请使用以下公式

所有二极管电流均可通过以下公式得出：ID = I_sat *(e^(Vd/(n*VT))-1)(电击公式)。

假设所有二极管相同-(假设 VT、I_sat 和 n 在所有4个二极管中都是恒定的-所有二极管上的 Vd 都不同)

t = VT * n

K = I_SAT

A = VDD - Vin

b = Vin - VSS

C = VDD - Vout

D = Vout - VSS

ID1 = k *(e^(a/t)- 1)

ID2 = k *(e^(b/t) - 1)

ID3 = k *(e^(c/t)- 1)

ID4 = k *(e^(d/t)- 1)

ISW = 100uA + ID2 - ID1

VOUT = VIN - ISW * Ron

因此、最好尝试通过使 ID1 = ID2和 ID3 = ID4来消除泄漏

设置 ID1 = ID2

k *(e^(a/t)- 1)= k *(e^(b/t) - 1)->这可简化为 a = b、这意味着理想情况下 VDD - Vin = Vin - VSS -> Vin = (VDD + VSS)/2、理论上这将消除一些泄漏、但由于 电压降、输出端会有一些泄漏-但这不应是很大的差异。 也就是说、实际器件在二极管理想因子的饱和电流方面可能存在非常小的差异、这些微小的差异 可能会导致与该近似值之间存在一些偏差-但本质上很难完全消除 所有泄漏二极管、因为 各组之间存在压降 二极管。  

3.所以在泄漏方面您是正确的-通过强制所有源极引脚处于相同的电压(应为 VDD 和 VSS 之间的一半以获得最佳结果)、漏极泄漏电流会更大、因为绝对最坏情况在-40C 至85C 范围内 (您位于低端、因此极不可能达到如此高的水平) 与 导通泄漏的+/-500pA 相比、为+/-150pA -因此、如果有两个多路复用器、您可以看到最坏的+/-300pA 情况、该情况仍然低于漏极导通电流最大值 但我想强调的是、这是最糟糕的条件、由于您不接近85°C、因此您应该获得更好的性能。

但是、需要注意的一点是、如果您在差分信号应用中使用此器件、则泄漏电流会更低-我假设它的单端数字是您查看的数字、但如果它是差分的、请告知我。  

4.在您正在查看的电压范围内-我认为这是中压和/或双电源 、而不是是是您正在寻找最佳的解决方案、因为我们在此产品系列中升级的器件具有稍高的泄漏电流、所以我认为您正在考虑 正确的部件。

如果您有任何其他问题、请告诉我！

最棒的

Parker Dodson