[参考译文] CC2652P7：稳定性测试温度冲击期间存在射频问题

尊敬的 Albin：

PA 有温度补偿、请参阅 TRM (https://www.ti.com/lit/ug/swcu192/swcu192.pdf)中的25.3.3.2.16。 但这只是一个用于根据25°C 与温度的差值来修改其他 TX 功率参数之一的补偿系数。  

请提供有关测试的一些更多详细信息：

• 温度变化的速度有多快
• 温度变化的方向
• 整个系统是否出现温度变化(即 HFXT + CC2652P7)？
• 如何进行温度测试(例如低温液、温室交换、冷喷雾等)
• 晶体是否使用了外部负载电容？
• 这里的客户要求是什么？
• 使用的 TX 功率是多少？
• 是在多个器件上还是在单个器件上都可以看到该问题？

谢谢！

周杰

你好、杰克、  

感谢您的答复、我会要求客户直接输入问题。  

但我有一个困惑、似乎 PA 温度系数只影响 TX 功率。 但是、根据客户共享的图片、看起来频率并不是预期的。  

BR、Albin

尊敬的 Albin：

正如我在上面所说的、我同意您的观点、即温度系数只影响 TX 功率设置。 除此之外、我不能指示您进行额外的温度补偿。 因此、这似乎是我们需要了解客户要做什么以及是否需要进行调试来确定问题的根源。

周杰