TMS320F28034: IEC60730 2803x提供的例程中有关FLASH自检以及RAM自检的相关问题

您好，

zhangzhenyu zhang 说：

1. 请问IEC60730 2803x提供的例程中，RAM自检区间为什么省略掉了0x8000-0x8100,以及只自检了L0-L3，M段没有自检。

您可以使用库函数来测试这些区域。demo project保留了这些区域用于其他目的(请参阅示例的 cmd 文件)，因此不会测试它们，但函数应允许您在 M RAM 中指定地址。

zhangzhenyu zhang 说：

请问FLASH自检中 STL_CRC_TEST_testNvMemory()   具体校验逻辑看不清楚，希望可以结合关键语句比如“||    ADDL    ACC, *XAR4++”大致描述一下校验逻辑，

library User's Guide中有一些注释说明了 PSA 是什么，您请查看这些注释。

基本上，Calculate_PSA_CRC 函数激活 PSA 逻辑，读取 pStartAddress 和 pEndAddress (RPT @PH || Addl ACC、*XAR4++)之间更新 PSA 值的所有存储器位置，禁用 PSA 逻辑，然后返回到 STL_CRC_TEST_testNvMemory()，然后该函数读回 PSA 结果，并确保它与 pExpectedCrc 值匹配(查找带有"Read LSB of CRC"和"Read MSB of CRC"注释的行)。