1.请问在USB模块中自带的TEST模式,如何实现?
2.我在main函数中,启动该模块后,使用HWREG函数向USBTEST寄存器的地址写值,写不进去。
3.在CCS 软件的寄存器窗口中修改USBTEST寄存器的值也无法修改,请问这个TEST模式需要怎么实现?
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1.请问在USB模块中自带的TEST模式,如何实现?
2.我在main函数中,启动该模块后,使用HWREG函数向USBTEST寄存器的地址写值,写不进去。
3.在CCS 软件的寄存器窗口中修改USBTEST寄存器的值也无法修改,请问这个TEST模式需要怎么实现?
您好,
TMS320F2837xD Dual-Core Microcontrollers Technical Reference Manual (Rev. K)
芯片的USBTESTMODE是为了符合USB 2.0协议中规定的四种test mode.
“23.6.3.11 USB Test Mode Register (USBTEST), offset 0x00F” 寄存器是可读写的。
如果您读写失败,请问USB其他的寄存器可写入成功吗?
USB 2.0 test mode & TEST_PACKET - Processors forum - Processors - TI E2E support forums