msp430G2403 电容按键 baseline 问题 和 系统稳定性设计

应该是baseline的算法有问题。不可能需要10s这么长的时间。初始的baseline是能够很快确定。后续的baseline也是根据不断采集到的数值进行更新。我想你应该是程序设计有问题。

首先是对波形采集进行显示，看噪声水平如何。主要考虑的一个是硬件布板问题，按键大小，形状。另外可以适当使用软件滤波。msp430能够实现上电即用（当然不是在上电的时候一直就触碰着触摸按键）

很感谢Peter_Zheng的指导！！

如果是baseline算法的问题的话，因为我们自己用的是TI官方的demo程序。

请问是不是能提供一些参考的算法？

另外，关于PCB的问题，是不是能够通过一些硬件方面的修改（例如：增加一些滤波电容）增加一些系统可靠性？

如果是TI库里面的算法，应该不至于需要那么长时间。您有几个按键，按键的振荡频率是多少，测量的窗口时间是多少？按键上的覆盖层有多厚？

谢谢Peter_Zheng！！

我有两种应用，一种是两个按键，一种是三个按键

按键结构是：按键PCB不覆盖绿油和丝印，上面加了大概1.3mm左右的泛光片，上层还有4mm的钢化玻璃。由于安装等因素，钢化玻璃和泛光片之间可能会有0.1mm左右的空气。按键直径15mm（由于模具问题，三按键的相互间隔只有3mm左右）

目前用于按键采集的时钟源是外部32768晶体，感觉很容易受到外部干扰。不知道晶振受到干扰后会对采集造成多大影响，是否会导致MCU重启。

部分代码如下

AA_CONST struct Element element1 =
{
     .inputPxselRegister = (unsigned char *)&P2SEL,
     .inputPxsel2Register = (unsigned char *)&P2SEL2,
     .inputBits = BIT0,
    
     .maxResponse = 500 + 500,
     .threshold = 500
};

AA_CONST struct Sensor button1 =
{

    .halDefinition = RO_PINOSC_TA0_WDTp, // Sensing Method
    .numElements = 1, // # of Elements
    .baseOffset = 0, // First element index = 0
   

     // Pointer to elements
    .arrayPtr[0] = &element1, // point to middle element
     // Timer Information
    .measGateSource= GATE_WDT_SMCLK, // 0->SMCLK, 1-> ACLK
    .accumulationCycles= WDTA_GATE_2G // 64 - Default

};

baseline灵敏度配置为：

uint16_t ctsStatusReg = (DOI_INC+TRADOI_MED+TRIDOI_MED);

请问您的片子是什么G2xxx那个型号的？

一般不建议使用WDTA这种时间窗，如果有两个timer，则一个做时间窗，一个做计数。如果没有2个timer，则用for循环这种模拟一个时间窗。请使用内部DCO来作为时间窗。另外用示波器看一下触摸按键的振荡频率是多少。

提供一段我自己修改过的代码给你参考，你也可以直接修改按键。

非常感谢Peter_Zheng！！！

我先试试您给的代码。

以后还得多多向您学习！！！

不客气，一起学习。