您好!!
客戶遇到一個問題回覆,在測試IEC 61000 4-3 RF 射頻干擾時(電池與系統一起測試,系統為醫療用平板電腦),此時為充飽電狀態,電池組出現PF(CFETF啟動)狀態,將電池鎖住,無法充放電。
我們將客戶寄回的電池照客戶條件模擬後發現,在IEC61000 4-3 測試時,頻率在高頻 1G Hz以上，Gauge IC 內部偵測出107mA的電流,進而造成PF啟動.
Gauge IC 設定如下:
1. CHGFET設定為1
2. CFETF 設定條件: 100mA / 5S
客戶想要知道,射頻干擾為何會造成Gauge IC內部偵測出107mA的電流,或者是TI 有沒有遇到類似這樣的情況.
再麻煩協助.謝謝
Chris
