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CSD95491Q5MC: CSD95491Q5MC出现Vin短路和器件损坏

Part Number: CSD95491Q5MC
Other Parts Discussed in Thread: TPS53681, CSD95490Q5MC

使用TPS53681+6*CSD95491Q5MC+2* CSD95491Q5MC6Phase+2Phase)进行设计,输入12V、输出0.8V/240A+0.9V/95A,但是发现有部分产品出现异常,具体表现为两种情况:

1、12V输入短路,拆除更换CSD95491Q5MC之后正常(6Phase中的一颗);

2、其中一片CSD95491Q5MC烧毁,导致附近12V输入的铜皮也跟着烧毁。

当前有几个问题需要请教一下:

1、对于CSD95491Q5MC的失效模式有哪些?

2、在DS中要求VSWAbsolute Maximum RatingMin=-0.3VMax=20V,其中-0.3VMin)是否有时间周期的要求?是持续的-0.3V电平吗?

3、对于目前我们的这个问题是否有其他客户遇到类似的情况?

4、对于当前我们的这个问题是否有什么建议?

TPS53681+CSD95491Q5MC使用问题.docx

TPS53681+CSD95491Q5MC_SCHEMATIC.pdf

  • Hi

        1. 一般是内部MOS烧掉。

        2.  datasheet上没有时间上的定义,但不应该是这里有问题,TI绝大部分降压芯片SW都有这个定义,但是没有出现过异常。

       3/4, 论坛上没有其他客户反应过这个问题。

        请问:1.  不良率多少?(一共做了多少板子,有几片不良)

                   2.  更换CSD95491后就正常,是否有测试更换后的波形,是否发现任何异常?   后续建议将板子烧机几个小时看看,是否会出现再次烧机的情况?

  • Hi,Johnsin,

    1、内部的MOS烧掉可能存在哪些原因?能做哪些排查?

    2、当前测试的Phase点信号波形如附件波形所示,SW信号的Min-2.6V,不知道这个影响是否很大?尝试过一些调试,也没法做到满足-0.3VSpec

    3、对于SW的测试波形也帮忙看看附件的图片,是否存在问题?

    两个问题的答复:

    1. 当前生产了341+131块板卡,其中341块板卡已经进行了测试,发现有3块板卡出现CSD95491Q5MC损坏的情况,每块板卡坏一颗CSD95491Q5MC
    2. 更换CSD95491Q5MC之后的板卡没有对比测试波形。已经完成测试的板卡先前通电烧机的时间也有24小时,后面待测试的板卡也会加长时间做老化烧机测试,预计加长到48小时。

    另外,补充一点信息:先前使用的是CSD95490Q5MC,但是后面由于供应的问题,换成了CSD95491Q5MC。测试过对应的电流和温度,都没有问题。电流每Phase39A、温度90℃。

    能否给个联系方式,电话沟通一下?

  • Hi,Johnsin,

    1. 内部MOS烧掉的话对外直观具体什么现象?起火?开裂?某个pin短路?
    2. 对于这颗物料的焊接前的烘烤是否有什么建议或要求?DS上标准的MSL2
    3. 能否提供给这颗器件的FEMA文件给我们?
  • Hi

        这类驱动MOS烧掉一般是击穿,SW脚对GND以及对Vin。   具体你还可以对照正常芯片pin脚对GND的阻抗来确认。

        散装才会需要烘烤,一般真空包装不需要, 注意一下ESD即可。

        -2.6V是所有板子都这样还是个别这样,如果都这样的话,有可能是测试上的问题,这个电压有内部MOS钳位,即便底边MOS不导通,由寄生二极管导通最多-0.7V, 如果是MOS导通更低。 确认一下测试,以及是否noise太大导致。

        另外确认一下layout,可以参考datasheet说明。

  • Hi,Johnsin,

    1. 请教一下,这个问题可能是什么原因导致的?需要做哪些排查?
    2. -2.6V所有都差不多是这个样子
    3. 有对应的FEMA文件吗?能提供给我们吗?
  • Hi,Johnsin,

    有客户出现过因ESD的问题导致芯片损坏的吗?

    从Datasheet上来看,该器件ESD的HBM和CDM都比其他类似的器件小500V。