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该信号的测试点在下管NMOS的gate端测得（LM3150 pin13），上管的gate也类似
中间出现了间歇性的不开启，这个和正常的比较，是不一样的，正常的开关信号是连续的。
请问这个出现的原因是什么？
HI
看起来是保护了，建议你确认一下是各个保护，包括芯片过温。
或者你可以借助芯片官网上的webench在线仿真确认电路， layout datasheet也有详细说明，建议严格参考。
这个是空载情况下测试的波形，空载时也保护了吗？
上面提到异常和正常的差异，都是在空载下吗？
有通过更换芯片确认吗？
除了测试驱动波形，还是其他波形吗？
1、都是在空载情况下进行的测试
2、在轻载下，输出电压稳定，但是负载加大后，输出电压就被拉低了
3、该PCBA之前的工作情况是正常的，我在作了整体电路的元器件替换之后（包括LM3150和外围元器件），才出现了这个情况。
Hi
替换了什么器件？ 换回去能正常工作吗？
