Other Parts Discussed in Thread: BQ27Z746
您好,
我想用评估板给电芯做Golden Learning。
在未使能MOS管时,在充放电测试模式下,可以通过BQ27Z746评估板给电芯正常充放电,但无法正常Golden Learning。
发送FET_EN指令,使能MOS管后,会直接触发XCHG和XDSG标志位,无法继续给电芯充放电。
按压唤醒开关时,PACK+与PACK-之间会短暂获得与BAT+、BAT-(电芯两端)相同的电压,一旦松掉开关,又会重新没有电压。
也就是只要使能了FET,无论是否按压唤醒开关,都无法充放电。
电芯用的是samsung 18650 25R。
疑问:这种情况是触发了电量计的保护功能还是充放电管周边电路已经损坏?如果是触发保护的话,如何解除?
谢谢!