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TPS552882-Q1: 芯片外置MOS和内置MOS均烧毁

Part Number: TPS552882-Q1

芯片型号:TPS552882QRPMRQ1

遇到的问题:

这颗芯片用于设备给camera的供电,设备正常运行过程中,camera突发异常,打开设备外壳后,发现芯片外置的mos,芯片本体均出现烧毁,输出为0V。

原理图如下:

烧毁芯片状态和位号如下:

我们当前的设计,不同温度下已做过上几十万次的开关电测试,均未出现过异常。

请TI的工程师协助我们分析这个烧毁的原因,谢谢。

  • HI 

         不同温度下已做过上几十万次的开关电测试,均未出现过异常, 说明很可能不是电路问题,估计如果用示波器测试波形,应该也找不到异常。

         请问你的输入源是什么? 相机上是电池吗?满电池电压是多少伏? 最低工作电压是多少?电源前端有没有热插拔保护(电池插入时是否有电压震荡?)

         仅仅是MOS烧掉吗? 芯片是否也烧掉了?如果是前者,更换芯片后是否正常?

  • 您好,感谢回复。
          输入源是汽车DC电源13V供电,满电电池电压13~14V,最低工作电压9V;

          故障发生时是汽车正在运行的状态,所以不存在电池插入时的电压震荡;

          MOS管和芯片本体都烧掉了,更换MOS管和芯片本体后可以恢复正常。

  • Hi

        这种不良多吗? 或者说比率多少?

        板子是否有在测试ok后烧机(在恒温房中长时间带载工作)?   

  • 目前出现了2台,比率大概能到千分之一,就是在测试ok后烧机的。

  • HI

        芯片是在烧机的时候损坏的? 波形上一点异常的趋势都没有吗?

        将驱动波形,MOS  Vds, Ids波形传上来看看?  

        也可以加大烧机数量或者时间降低风险。