Hi E2E,
LMQ66420R5RXBR是主板的输入级高效12~24V.dc输入转5V.dc输出DCDC。
在快速接头进行上电和掉电热插拔时，LMQ66420R5RXBR的VIN端会被击穿起火花，造成永久不可逆转的物理损坏。
初步原因分析，在热插拔的过程中有接触不良会产生电火花现象，而火花会引起输入电压的波动和脉冲干扰，从而使DCDC的内核电压没有建立时，使内部上下桥臂的MOSFET导通，引起VIN和GND直接导通，出现测试过程中的炸管现象。我们不清楚上述分析是否合理?目前采取的措施是加大了LMQ66420输入端电容，暂时没出现烧坏现象。请问还有其他的改良措施么？只是加大了电容是否还存在风险？
