我们有一个ASIC芯片作为SPI的Master端，选用CD74HC4067作为MUX实现不同ASIC的调试，经过MUX之后，连接了FT2232HQ（USB Hi-Speed to Dual Channel Serial UART/FIFO/JTAG/SPI/I2C IC, QFN-56）芯片。信号失真后我们不能通过PC端的程序检测到ASIC芯片了。请教大家怎么做才能让信号不失真呢？
Master端的SPI之CLK信号波形
通过MUX之后的CLK信号波形
Kailyn，多谢回复。
对的，distortion的波形是直接在HC4067的输出端测试的。HC4067的输出端连接的是SPI Slave（应该是FT4222HQ，原帖记混写错了）的CLK的输入端。
Master端的CLK的波形是在HC4067的第一个输入通道处(即I0)处测试的，波形确实也有点不是特别好，但是，如果经过MUX之后能保持此种波形，那么我们就可以从PC端发现这个SPI Master设备的。我们之前用的16:1的MUX（ADG725）的信号更不好，MUX的输入端和输出端都不好，换了HC4067后，输入端没有畸变什么的了，比ADG725好很多，但输出端还是不理想，不能正常被SPI Slave（FT4222HQ）探测到。我们有工程师猜测是阻抗匹配的问题，但是不知道如何改善。如下，我把问题又描述的再清晰下。
您好，我们可以看下HC4067 的导通电阻随着输入信号变化的曲线，可以看到不同的输入电压，Ron的值是不同的，最大能达到80ohm多，所以如果输入信号的电流，以及开关的漏电流流过多路复用器时，那么越大的Ron就会产生越大的偏移电压误差，直接导致输出信号失真。所以可以使用Ron较低的MUX器件。
您好，每个SPI有4根线，比如4通道2选1开关，就是8个通道，即从两个SPI 设备选取其中一路SPI。
您说的16路的话，应该就是4个SPI选取其中一路SPI导通。
比如下面的应用示例，您看下，TMUX1574是一款宽电压范围，高带宽，低导通电阻和电容的器件。
如果按照您说的16路的话，需要并联两个TMUX1574. 可以先使用一片，验证下信号质量是否提高，是否还出现失真现象。
谢谢回复。我们已购买TMUX1574准备试下。
【2022.06.20】经过测试，SPI信号经过TMUX1574是好使的，选通后PC能够发现TMC4671。
但，另外一个问题，我们的需求是从16个SCK信号中选出1个SCK信号，从16个MOSI信号中选出一个MOSI信号，依次类推，即16组SPI信号中选出1组，不管选出哪一组来，都是连接到芯片FT4222HQ上，16选一的原理图示意如下：
您所提到的TMUX1574并联，能否稍微详细地解释下，我们总感觉好像达不到我们的效果。
能否推荐一款各项参数类似于TMUX1574，但是功能和HC4067一样的MUX不？
Thanks.
我的意思如下，每个SPI device有4根线，MISO， MSIO，CS和SCLK，您说的16路即从4个SPI device中选取一路导通。如下图：
那您的这种应用，16个SCLK/MISO/MOSI/CS中选1，那实际是需要4路16路选1的多路开关。TMUX系列是我们比较新的开关器件，HC4067比较老了。
那如果选择16选1的开关，可以看下MUX506，虽然它的导通电阻和HC4067一样比TMUX1574大，但是它的漏电流只有pA级：
