PGA309多路校准系统增加校准温度点数出现问题

Hi Guoliang,

您好，我用EVM试过，设置了四个点，是可以完成正常校准的。我想请问您所指的“多路校准系统”，是指Multi-Cal吗？谈一下个人看法。

其实关于温度范围的校准，软件后台并不是指做三个点的校准，实际软件做的校准间隔我印象中大概是可以细化到每5.8°C一个点的温度校准，如果你是用软件默认的pre-cal 文件做实验的话，即使指对0~100°C做校准，实际测试后，发现在-100°C到200°C，线性度都是非常好的。

Hi Guoliang,

您能稍微详细描述一下您的应用吗，以及现在的测试进展到哪一步，遇到的问题。

这样更利于大家帮你分析，找到解决方法。 

是用的Multi-Cal工装，Pre-cal文件内可以设置多个温度点，但在主界面校准的话不会成功。您说的对0~100°C做校准其它的线性都好，我做过试验不行。

Hi Guoliang,

主界面上显示的提示是不对，但是Over Temperauture Results里面是正确的，所以，请按照Over Temperauture Results中实际设置的温度点，进行调整外部温度和压力。

Hi Guoliang,

主界面上，一直显示的是0°，50°，100°，这是软件的bug，请按照Over Temperature Results中实际设置的温度点，进行校准。

TI正在根据客户的需求，修改软件。

我是按照Over Temperature Results中实际设置的温度点进行校准，前三个温度点数据显示正常，第四个不管怎样都显示不出结果，还有设置三个以上温度点后软件就会没完没了的在提示100°的校准步骤，永远不会停止。

再提点小建议，PGA309芯片可以补偿温度，但应该也可以不补偿，现有软件版本好像也不行，希望能一起升级。

Hi Gguoliang Niu,

非常感谢您对TI产品的支持，以及您所提的宝贵意见。我们正在计划修改软件。

Hi Guoliang,

如果只做三个点的温度校准，您发现精度达不到您的要求吗？换句话说，您的指标是多少？

达不到，因为我们补偿的温度范围宽，-40~125度，传感器在此范围内不是线性的，所以被补偿的点精度很好，中间某点可能精度特差。当然，温度区间小的话是可以达到要求的。关键是传感器问题，所以才用PGA309做补偿。

Hi Guoliang,

明白您的意思，我们正在修改软件，感谢对TI的支持。

Hi Guoliang,

针对您反映的问题，我们修改了Multi-Cal软件，现在可以支持超过3个温度点的校准，上传到TI的ftp服务器上了。

请下载：

ftp://ftp.ti.com/pub/linear_apps/Multi-Cal-PGA309/Multi_CAL_PGA309%20Installer_1.6.zip

 新软件使用了，校准了4个温度点，成功。只是没有了DEBUG项，校准完后复测得下工装测试。有点不方便。其它的还在试用中……感谢Iven Xu对我们的帮助。 

Hi Guoliang,

感谢您对TI产品的支持。

您所说的“只是没有了DEBUG项，校准完后复测得下工装测试”？能详细说一下吗？

所有校准完成后，要对所有的仪表进行验证，比如我想看任一通道上的仪表的实际输出数值，如何让万用表34401A测量该通道，也就是如何手动切换通道。

Hi Guoliang,

如果您觉得有用，我们可以再加上Debug功能，可能需要等几天。

Hi Guoliang,

请下载Multi-Cal-PGA309最新版本的软件，现在可以支持Debug功能了。

ftp://ftp.ti.com/pub/linear_apps/Multi-Cal-PGA309/Multi_CAL_PGA309%20Installer_1.6b.zip

Hi lven Xu,

Debug功能还有缺陷，电压输出测量不了，电流输出的需要先切换通道（set channel）再点击复位（Reset Mux），有点不方便。

温度补偿：我测试了几天，发现一点问题（还不清楚怎么原因），给您说下，帮忙想想。第一次用硅压阻传感器，309电流输出电路板，温度补偿4个点（-20,10,40,70），补偿完成后复测（-20,-10,0,12,25）完这几个点后就下班了（这几个点数据正常），结果第二天上班一看，四台全部输出不对了，零点输出有三点多的，还有五点多的。怀疑电路板有问题，更换为电压输出的重新校准（0.5~4.5）还是四个温度点，完成后同样复测完几个温度后下班，第二天再看，结果跟之前一样，数据还是乱了，有的只有25mV输出。接下来第三次校准，跟第二次一样的硬件，温度改成三个（-20,20,60），校准完复测正常，第二天看还正常。现在还是一样的硬件重新校准四个温度点，进行中……

以上使用的是同几只传感器。

非常感谢您的反馈信息，您所说的输出不对，只是零点不对、还是其他温度点也不对？

只要是输出出了问题，所有温度点就都有问题，不管零点还是满度。这一次测试又有一台出现了问题。我把一台不正常的和正常的EEPROM对换一下，结果现象也跟着对换了，照这样应该是EEPROM中数据丢失造成的，但数据丢失为什么是过一段时间后再丢失的。前两次都是第二天再测试发现不正常的，下班后仪表是不通电的。这一次的一台是当天就出现的。

Hi guoliang,

1，您所说的“正常的EEPROM”中的数据是用之前老版本的软件做的校准吗？

2，如果是，那么现在“不正常的EEPROM”除了软件版本不同之外，传感器以及所用的Model File也是跟之前一样的吗？

都是用的新的软件，一批校准出来的。

PGA308和PGA309这两个芯片如果是做4～20mA的变送器，1W线有什么好的处理方法，不处理容易受干扰（PGA308已经发现），会造成内部数据乱写。如果接上拉电阻，校准出来对精度多少会有点影响（校准时的读数与脱离工装单独测的数据不一致，不同变送器误差不等）。

Hi Guoliang,

你现在能确定是1W受到干扰，而导致PGA内部寄存器值被篡改的吗？

如果是，那么你试一下，将出现问题的模块，把1W线从靠近芯片端割断，然后再加上环路电压，查看结果是否改变。

Hi Guoliang,

请问你的板子，1W是独立的吗？还是和Vout共用的？

“按照前面的理解，当你完成一批校准之后，再分别验证每个模块的功能时，发现同一批次中有些EEPROM被篡改了”，是这个情况吗？

电压输出的1W和OUT线是接一起的，没有问题。电流输出的接一起通讯不上。之前做过试验，用PGA308芯片，校准完成后，在老化台老化，过一段时间后输出不对了，后读取内部数据发现7个BANK和4个SEL全部有了数据（是随机的数据），后在1W线上加了上拉电阻，再老化就OK了。

PGA309芯片 我是直接接上拉电阻的，现在做了几台没发现数据跑的，前几天的那个现象有点怪异。

我现在主要关心的主要是校准时的数据与单独测试的数据不一样，用的是同一台电源，同一台电流表。这样的话精度提不上去。电流输出模块可不可以1w与OUT接一起？

新的校准软件里的write eeprom from file功能是怎么个用法？是写校准完的数据还是只是写寄存器的配置？不管什么我从文件里导入的数据列表里都没显示。要是校准结果能手动更改并可重新写入模块的话，就很理想了。

Hi Guoliang,

1, "电压输出的1W和OUT线是接一起的，没有问题。电流输出的接一起通讯不上。"

做电流输出时，不能将1W和OUT线接在一起。

2，“之前做过试验，用PGA308芯片，校准完成后，在老化台老化，过一段时间后输出不对了，后读取内部数据发现7个BANK和4个SEL全部有了数据（是随机的数据），后在1W线上加了上拉电阻，再老化就OK了。”

这里，你说的是PGA308，我们没有修改PGA308的软件，所以不是软件的问题。按照你的说法，PGA308内部数据被篡改了，你判断可能是有“数据或者干扰”进入1W，你说加了上拉电阻就OK。

想问的是，你在老化台上，电路接口是怎么连接的？是否只接Loop Power Supply、Sensor，而把1W悬空？

1，“PGA309芯片 我是直接接上拉电阻的，现在做了几台没发现数据跑的，前几天的那个现象有点怪异。”

PGA309的Multi-Cal量产工具，虽然，我们修改了软件，但是没有改变核心的东西，只是做了关于支持不同万用表的优化（现在不仅可以支持Agilent34401-GPIB，而且可以支持其他的USB to RS-232接口的表）。所以，你的问题，应该跟软件没有关系。

2，“我现在主要关心的主要是校准时的数据与单独测试的数据不一样，用的是同一台电源，同一台电流表。这样的话精度提不上去。电流输出模块可不可以1w与OUT接一起？”

电流输出模块不能将1W和OUT接在一起。

3， “校准时的数据与单独测试的数据不一样”

这里你所说的数据，是指输出结果不一样吗？校准是指用Multi-Cal-PGA309做多路校准？单独测试是指，做完多路校准之后，脱离多路校准系统，然后用单独的Loop Power Supply加到你的模块上（模块接传感器），再测试，发现测试结果与校准时数据不一样？你所指的“校准时的数据”是指软件显示的校准结果吗？

“新的校准软件里的write eeprom from file功能是怎么个用法？是写校准完的数据还是只是写寄存器的配置？不管什么我从文件里导入的数据列表里都没显示。要是校准结果能手动更改并可重新写入模块的话，就很理想了。”

1， "write eeprom from file功能"，简单的说，当你批量生产时，你想节省成本，不对每一个模块进行一一校准，而是只做一部分校准，得到该批次写入EEPROM中的数据，然后把这个数据文件，直接写入其他没有经过校准的模块的EEPROM中。从而节省生产成本。

2，关于该功能的使用方法：

第一，首先用USB-DAQ板和PGA309EVM板，对一个模块，放进温箱中做校准，完成之后，你就可以得到写入EEPROM中的数据文件。

第二，把另外你没有做校准的模块，都接到Multi-Cal-PGA309批量生产工具上，（这时候不需要利用Mulit-Cal量产工具做批量校准，只是用这个系统把上一步得到数据文件，一起写入到所有接到Multi-Cal量产工具上的模块中。从而节省生产校准成本。），同样选择应该使用的Model File，然后点击Run Cal下面“Start Cal”，扫描一遍所有接到该量产工具上的模块，然后点击Wirte EEPROM from File下面的”Load EEPROM with Cal File“按钮，选择第二步得到的数据文件，就可以下载该文件到所有扫描到的模块中。如果写入成功，EEPROM Write Complete指示灯就会变绿色。

你有时间可以验证一下。

当然，因为不同的模块可能稍有差别，而我们都是用同一个数据文件，所以这种方法可能会有些误差。

我知道软件没修改，我想问题的是硬件上的问题。在老化台上1W线是悬空的。

3.就是您说的那样。

“OWD”功能是在三线制电压输出模块中使用的吧。如果在电流模块中开启此功能也能正常工作。会不会在电流模块中开启些功能就不会造成1W线干扰的问题了呢？

Hi Guoliang,

“OWD”是在三线制电压输出模块中使用的。

 你最后一句“会不会在电流模块中开启些功能就不会造成1W线干扰的问题了呢？”应该是真对PGA308的，对吗？

如果是针对PGA308，那么你可以看一下”OWD OFF'，但是应该注意：如果使能了该位，那么1W将会失效；如果该位被写入到OTP中，那么1W接口永久失效。

你可以试一下使能该位，并写入到OTP中，再做老化实验，看一下是否还会发生数据篡改的现象。

PGA309在电流模块中也能开启"OWD"功能。