尊敬的TI工程师您好:
我们按照TI的稳定性文档,搭建了一个调压电路,跟下图类似。原理图已经做好了,正要打样。
但是突然怀疑起来他这里的开环仿真方法,按上图所示,他这里的开环仿真是没有考虑负载电容的影响的,那这样的相位裕量是否正确呢?参见下图。
我用一个简单电路仿真试了下,结果也是CL确实没有被考虑在内的。
——这样仿真没有考虑CL的影响
——这个仿真结果是对的,考虑了CL的影响。
因此,想请教一下,如果我按照最上面的图去仿真,是否也是没有考虑CL的影响呢?那么稳定性结果是可以参考的吗?
非常感谢!!!