根据I V转换电路，使用交流电流源激励，通过测量采样电阻和DUT(待测器件)上的电压，计算得到DUT的阻抗。具体Multisim仿真电路如下图所示，DUT为图中的R1，采样电阻为R2，容易得到R1=-R2*（V1/V10），根据XBP1（波特测试仪）可得到V1对V10的幅频特性与相频特性曲线，由此可计算得到R1的在1kHz~400kHz频率范围内仿真测量值（实际测量中，DUT不会是纯电阻），测量结果见图。从测量结果可以看到，随着频率上升，模值误差和相位误差都明显增大，这只是100kΩ的测量情况，当DUT阻抗更大时，误差更加明显(第三幅图DUT是1MΩ电阻)。
此外当使用方波电流激励时，采集的电压波形存在明显过冲，这种过冲现象随频率和DUT阻抗增大愈发明显，这是为何，请问如何解决呢？
请问在实际应用中，有没有更好的阻抗测量方案，除了类似AD5933这类阻抗转换器系统解决方案外。
