产品中使用了OPA1632器件作为单端转差分运放。系统的原理图如下图示意图所示：
图中电路工作原理为：恒流源产生一个直流激励，驱动负载线圈抬起（负载线圈可以理解为通电弹簧），之后通过模拟开关断开恒流源，负载线圈做衰减震荡运动，通过线圈后端电路对衰减震荡波形进行采样。
实际测试结果发现，三块同样电路只有一块电路同标准测试设备测得的结果一致。其它两块均有一定量的偏差，此外，将正常的一块电路的OPA1632解焊到其它两块电路上，其它两块电路也工作正常，将其他两块电路的OPA1632解焊到之前正常的电路上，该电路也变得不正常。因此定位是OPA1632导致的电路板测试结果差异。
已经更换了不同渠道的芯片来源，并选择了不同批次芯片进行对比，发现仍存在该问题。目前仅发现一片OPA1632测试结果没有偏差（共计实验5片，其中2片从正规渠道购得（云汉芯城））。
已经被这个问题折磨了好多日，麻烦TI的各位攻城狮们帮忙分析下原因~~不胜感激，产品亟待发售，十分捉急。谢谢！
产品中使用OPA1632遇到了一个很奇怪的问题，产品的电路原理图如下图所示：
图中电路大体工作流程是恒流源给出一个直流激励，幅度大约500mV，然后通过模拟开关断开，此时负载（可以看作是一个通电弹簧）做衰减震荡，对应输出电压波形相同，衰减震荡频率小于100Hz。用图示电路采集衰减震荡过程，计算衰减震荡的相关参数。
目前的问题是，焊接了三块电路，发现其中只有一块同标准设备的测试结果相同，其它两块均有偏差，通过排查定位在OPA1632上，具体现象是：正常一块电路上的OPA1632移到那一块电路上，哪一块电路就正常了，因此可以确定是OP1632的个体差异问题。曾经怀疑过批次和拆机件，更换过不同批次和不同渠道的芯片，均有上述问题（目前就发现一片同标准设备测试结果相同的，其余均有差异）。
麻烦诸位TI的攻城狮们帮忙解答，困扰很久了，谢谢！！！
产品中使用OPA1632遇到了一个很奇怪的问题，产品的电路原理图如下图所示：
图中电路大体工作流程是恒流源给出一个直流激励，幅度大约500mV，然后通过模拟开关断开，此时负载（可以看作是一个通电弹簧）做衰减震荡，对应输出电压波形相同，衰减震荡频率小于100Hz。用图示电路采集衰减震荡过程，计算衰减震荡的相关参数。
目前的问题是，焊接了三块电路，发现其中只有一块同标准设备的测试结果相同，其它两块均有偏差，通过排查定位在OPA1632上，具体现象是：正常一块电路上的OPA1632移到那一块电路上，哪一块电路就正常了，因此可以确定是OP1632的个体差异问题。曾经怀疑过批次和拆机件，更换过不同批次和不同渠道的芯片，均有上述问题（目前就发现一片同标准设备测试结果相同的，其余均有差异）。
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