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LMX2572 在室温下VCO Calibration了150个频点，回读了VCO_SEL_FORCE，VCO_CAPCTRL_FORCE，VCO_DACISET_FORCE 值保存在MCU的flash中，在-40度低温下给LMX2572上电依次设置150个频点，发现有约1/3的LMX2572的部分频点失锁，问题可能出在哪里？
您好，
您的意思是有约1/3的LMX2572异常吗？您测试了多少个设备
还是说有约1/3的频点（50个频点）失锁？
8个设备，每个设备上有2个lmx2572，其中两个设备上的两个lmx2572都有部分频点失锁，有两个设备上只有一个lmx2572部分频点失锁，每个lmx2572在零下40度冷启动失锁的频点数量不一样，有2个lmx2572只发现了一个频点失锁，有3个lmx2572发现了不到10个频点失锁，有1个lmx2572发现10个以上频点失锁。另外我怀疑有更多失锁频点没有被发现，-40度测试150个频点，失锁的频点都在前50个频点内，我怀疑测试到后面的频点时设备本身的发热已经使lmx2572正常锁定了。我还在-30度进行了测试，全部lmx2572都正常。
您好，为更加有效地解决您的问题，我询问了更了解这款芯片的TI资深工程师，他还没有给反馈，一旦得到回复会立即回复给您
您好，已给反馈，他说您的怀疑是合理的，电路中引脚 3 ， 27 和 38 处的去耦电容是多少
