LMX2820EVM: 开发板测试的相噪数据明显差于手册所给的测试结果

您好，我参考开发板手册搭建了测试环境，实际相噪结果与手册所给结果相差16dB左右，请问是什么原因。

测试环境如下：

电源：KEYSIGHT E36313A    3.3V/0.6A

基准源：LEYSIGHT  PSG       100M

仿真软件：TiCS Pro

信号分析仪：   CEYEAR  4141F

测试频点：6GHz

测试相噪点：10KHz频偏处

问题：实际测试结果为-100dBc/hz@10khz，理论结果为-116dBc/hz@10khz，为何相差甚大，有什么方法可以改进？