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ADS129x(R)高采样率测量，时域波形有异常跳变

user5132775
Prodigy 30 points


Hi everyone,

最近使用自设计的ADS129XR测量板，CH2空载以4kSPS采样率，测量信号发生器生成的50Hz或100Hz，2Vpp的正弦信号，测量结果波形中每隔0.00625s(160Hz)产生一个异常跳变，尝试改变信号的频率以及幅值，问题仍然存在；（更换CH1测量，采样率在4kSPS时，提高到8kSPS时不正常）

ADC直接测量直流信号，信号无异常；

以高于4k及以上采样率，都会出现这个问题；但用2k及以下采样率，结果正常；

能够确认系统数据传输过程中无丢帧现象存在。

实际测试结果如下：

采样率4kSPS，信号频率50Hz

采样率4kSPS，信号频率100Hz

采样率2kSPS,信号频率100Hz

采样率4kSPS，直流信号

  • 0
    TI__Guru**** 185470 points
    您好，

    时域波形有异常，您是指ADS129x模拟输入端吗，还是ADC之后又转换成的模拟信号呢
    如果是指ADS129x模拟输入端，可能是其他信号干扰了ADS129x的输入信号。
    如果是ADC之后又转换成的模拟信号异常，有可能是转换过程中引入了干扰，ADC信号走线附近是否有其他数字信号，电源信号、参考信号是否有大的纹波。
    因为160HZ，频率比较低，在采样率比较高时更容易采集到。
  • 0 回复 Amy Luo
    Prodigy 30 points
    ADC采集后的波形会有这个异常，4k时CH1没有，CH2有；8k时CH1和CH2都有；其他六个通道目前还没有测试；
    系统中好像没有160Hz的信号
  • 0 回复 Amy Luo
    Prodigy 30 points

    今天用手边的逻辑分析仪抓了下底层的SPI波形，发现DRY引脚波形异常，异常时的建立时间相比其他正常过长，而且后续SPI仅仅读取到几个字节数据；

    （图中所有波形电平需要反向，因为逻辑分析仪程序的问题）

    异常时SPI波形：

    正常时，SPI波形：