[FAQ] 如何在量产中对智能 DAC 或 AFE 的 NVM 进行编程？

答：智能 DAC 设计过程可分为三个阶段：评估、原型设计和量产。 

在评估阶段，智能 DAC 或 AFE EVM 可用于初始测试。 

在原型设计阶段，智能 DAC 或 AFE EVM 可用作控制器，对安装在原型板上的智能 DAC 或 AFE 进行编程。在此阶段，可以确定最终的 NVM 值。 

在量产过程中，智能 DAC 或 AFE 的 NVM 编程可集成到一个针床 测试装置中，该装置通常在量产结束时用于电气测试。这样，无需板载控制器或手动编程（如原型设计阶段中那样）即可进行高效编程。 

下面列出了一些智能 DAC 器件：