大家好，参照TI的参考设计，基于ADS131m04和STM32F103搭建了一个简单的采样电路，希望获得比较高的通道间采样一致性，就是希望两个通道对同一对象电压同时采样时，通道间差别在微伏级别或更好。
我的电路基本就是参考设计的样子，只不过右边是STM的MCU
MCU的时钟是8M，给AD输出的时钟也是8M，其他是参考TI实例代码修改的程序，基本思路是：
系统初始化——配置MCU——配置AD并启动——开始中断扫描——中断读出数据——间隔数据输出
主要的程序是这样的，TI的AD驱动没有修改：
ADC配置和启动（参考坛友的）：
中断后的数据读出：
定时数据提取并打印：
现在问题是这样，数据可以比较正常的输出，但是两通道对同一电压（比如对地）采样时，通道间的差别在0.5mV左右：
上图中，IO1和IO2采集电压，绘制了曲线，右边数据列表中I4时IO1和iO2的压差。
请大家帮忙看看，这种水平是ASDS131m0x的正常现象吗，从手册上看，至少也应该达到100μV的水平吧？
另外，还有同步采样AD能达到更高的一致性水平吗，比如10μV级别？
谢谢大家！
被测电压回路与ADC是共地的，二者地进行了连接；
现在的供电方式是干电池+AMS1117，足够ADC使用了吧，需要采用LT3045这种更低噪声的电源吗？
输入信号是干电池电阻分压，应该是很稳定的，而且ADC输入全部接地我也测过，跳动还是比较大的；
ADC设置的输出速录是最低一档，8M的时钟，数据率差不多250SPS；读取与保存数据是否完整这一个我再看一下，但目前从测试电压来看还是比较准确的；
chop mode正在调试，我再试一试各种参数的影响。
另外再请教您一下，ADS131m0x测量电压对象的噪声，实际水平是跟手册上一样能达到2μVRMS以下吗？
ADS131M04供电只需要几个mA，它主要考虑的是供电电源工作方式，以避免供电电源引入高频干扰。
而且ADC输入全部接地我也测过，跳动还是比较大的；
噪声也可能来自GND，建议将模拟和数字接地分开，并将它们通过 0Ω 电阻连接。
读取与保存数据是否完整这一个我再看一下，但目前从测试电压来看还是比较准确的；
这里主要考虑的是两通道数据是同一时刻采集的数据，那么的值应该是一样的，如果不是同一时刻可能会因为输入信号的不稳定两通道数据有所差别。不过这种可能性比较小，因为看两条曲线，它们之间一直存在一个比较大的差值。这让我考虑到可能是输入失调电压引起的：
典型值是±175uV，测试时，增益您设置多少？如果有增益的话，输出失调电压是输入失调电压乘以增益。
关于噪声，这个不仅与ADC本身的性能有关，还与ADC整个系统的设计有关，包括输入模拟信号的噪声水平、基准电压的噪声水平、供电电源引入的噪声、时钟jitter也有影响、 layout 噪声等。下面视频第6部分有讲ADC的噪声，您可以看下：
https://training.ti.com/types-noise-adcs?context=1139747-1140267-1128375-1140017-1135717
ADC总的DC误差包括失调误差、增益误差和非线性误差，下面链接有总的误差TUE（Total Unadjusted Error）的计算方法：
TI也提供了总的误差计算工具：
如下我输入各参数计算出的结果，可以看出增益误差是最大的误差，最大误差是378ppm，378*0.89V=336uV
具体使用方法可以点击help查看。
看增益误差是±0.1%，如果正好一个是正误差一个是负误差，那么两通道最大的差值就是336uV*2=672uV。
您可以换一片芯片试试，看结果是否有所改善？
