我们在使用ADS1271做的数据采集卡中(±10V量程)，信号通过OPA1632(使用单端模式)做1/4衰减后接入ADS1271，ADS1271使用高精度模式，通过改变ADS1271的主时钟来改变采样频率。
将输入端接地测零点时，改变采样频率，会有100uV的偏移，但在测ADR425出的基准源时，先最大采样频率修正增益误差，使采集结果为5000mV(uV级一直在跳，跳动量不到200uV)，但改变采样频率时，如果采样频率大于80KS/S,采集结果都是5000mV，但是采样频率在50K时，为5015mV，然后，采集结果随采样频率减小而增加，采样频率减小到1Ks/s时，采集结果为5038mV，但是用万用表测，我的基准源信号都是5000mV不变的。
怀疑是我的调理电路出了问题，将ADS1271与前段的OPA1632断开，将基准源信号直接接进去，采集结果上仍然有上述随采样频率减小采集结果增加的问题。请问这是不是ADS1271芯片本身的问题？
