AD的精度与测量稳定度

这个问题实在宽泛，从PCB到基准无一不包。

首先；基准是AD的基本尺子；它决定了基本的精度和漂移。好的基准都在数据表里列了精度温漂时漂曲线。由于高性能基准的温漂大都是非线性的，需要工程师按图查询；计算出基准误差，然后量化到AD输出。

其次；AD的理论误差是正负一位，只要噪音抑制到位；AD的精度通常有保障的。这点；由于关系到PCB layout，每个设计不径相同。

再次；采样保持电路的误差。在PCB设计良好条件下；这类误差一般在千分之一以下。

最后；误差来自数据处理及补偿。如一个12位AD，你的最大采集量只达到八位，显然；精度并不比八位AD强。

理论上；理想的最大误差比较好计算，典型误差就需要做数理加权分析了。加之PCB方面不太好量化的因素，通常只能估算个大概，并留有余度。最后以实测为准。

如TI的ADS1115，它的INL是1LSB，而偏置误差最大3LSB，增益误差最大0.15%。那么AD的理论误差到底是多少？？

实际的测试过程中发现AD返回的数据的稳定范围在1mV以内，即返回的数据中波动幅度不超过1mV。

那么我就想知道，理论上AD的误差到底是怎么估计的？AD采样的数据的波动范围到底是多大？

你好，

如果你将输入噪声，电源噪声等全部都算进去，那么你评估的就不是ADC的精度，而是系统的精度了！

ADC的精度可以用ADC的位数来描述，比如说ADS1118是一个16位的ADC; 精度可以用ADC 的有效位描述：ENOB = (SINAD - 1.76) / 6.02， SINAD 参数通常可以在数据手册中找到。

根据你的应用情况：输入信号时DC 还是AC, 系统是否进行校准，再具体评估ADC的哪些参数会影响系统的误差（实现的精度）。

浮动范围受 噪声（输入信号的，ADC本身的，参考电压的，供电电压的）， ADC本身的其他性能 （偏置误差，增益误差等）等影响，当然也跟输入信号跟ADC之间的驱动电路的性能有关。 

如果ADC的外围电路足够好的话，根据ADC的Offset error, gain error, INL, DNL 可以评估DC性能，根据Noise、SNR, THD可以评估AC性能。

你好，

比如你所举例的ADS1115，如果仅仅是评估ADC性能的话，那么其直流误差 = sqrt（偏置误差^2 + 增益误差^2 + INL^2 + DNL ^2)；

sqrt 意思是平方根；

数据手册上的参数是 实际测试的结果，并非仅仅是估计得到的。

实际AD采样的结果不仅仅跟ADC本身有关，还跟其输入驱动电路，供电电源等有关。

在采集直流信号时，在偏置误差、增益误差、参考电压的温漂可以补偿的条件下，AD的精度如何评估？量化的表达式。

AD在采集直流信号时，AD采集结果的浮动范围是多大？如何量化？

AD在采集交流信号时，在采样频率足够高时，其采集的精度和采集结果的浮动范围与直流时有何不同？最好有量化表达式，并对表达式所依据的原理进行说明。

你好，

在偏置误差、增益误差、参考电压的温漂可以补偿的条件下，如果电路设计地合理的话，那么误差就只有非线性失真的了，这个跟INL, DNL 有关，可以这么计算，非线性失真 = sqrt（INL^2 + DNL ^2)；

理想情况下，AD采集直流信号的浮动范围 在上面所说的 直流误差  以内。

采集交流信号的时候，一般更注重结果的信噪比，失真等情况，即SNR, THD。

1、计算误差的时候为什么是平方和再开方？

2、实际AD采样的结果不仅仅跟ADC本身有关，还跟其输入驱动电路，供电电源等有关。请详细说明AD的精度和输出电压的浮动范围与AD的驱动电路及电源的关系，考虑其影响关系是否可以量化？

请问：怎么用实验仪器测量ADC的精度？