TI的工程师，你好：
我们用ADS1115做了一版DAQ模块，并且使用它进行了ADS1115的INL测试，但是结果不太理想，与datasheet上的值相差较大。我们不清楚是哪里出现了问题，希望工程师们能协助我们。以下是实验条件：
测量环境：常温，ADC输入RC电路与EVM相同，SMU给ADC一个差分输入信号，并用DMM测量输入信号，进行ramp扫描。
芯片设置：选择差分输入，FSR设定为±2.048V，SPS=8。
INL计算：找出出现相同code的中间电压，得到一条code-voltage曲线，使用best-fit方式拟合曲线，并计算曲线与拟合直线的偏差得到INL。
图片里是我们的测量结果，这个结果与datasheet上的数值和图表都无法匹配。
