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附件中有三种ADC直流采样直方图分布情况：
DC性能好的超过了器件资料给出的，DC性能差的没达到要求。请问该差异的来源？器件离散型？板级设计差异？
你好！
前面两张图是由于输入范围的不同导致，如果电路中的器件本身的偏差带来的误差是0.2V的话，那么其在输入范围为5V时对应的是+/-1的变化，那么其在3.6V上对应的变化可能就是+/-2的变化了，最终导致了图一比图而效果差。
再者，器件资料测试值时大量器件实验的平均结果，而我们一般情况下使用的数据肯定处于较好的一个范围内的。故在同样的条件下，图二的测试结果要优于资料测试值也是很正常的。
ADC性能的确存在差异性。
如附件所示，我ADC采样直流，其标准均方差STD=0.544 LSB，但是能看到明显的行噪声。
另外一款版，STD=0.842，没有看到行噪声。请问该问题是如何解释？
ADC本身的差异是非常小的，基本上可以忽略不计的。
之前的你所说的三款有区别主要是由于你的测试条件存在区别而导致有一定的差别，即在同样的分辨率，不同的参考电压的情况下，导致其code分布存在一定的差别。
能否详细描述一下你的两款STD存在差别的测试条件，即是否使用同一芯片，测试的参考电压是否一致等等。
谢谢！
ADC为ADS850，内部参考源，3.6V/5V的input span，2.5V共模电压。伪差分输入，输入电压值基本一致。
供电芯片为LMZ12001+TPS736XX系列。
详见附件。之前的图片的input span是3.6V。
以上为input span从3.6/5V更改为2V/4V，我们使用多款ADC对比，参数有点混淆。
对于不同ADC的比较，建议直接参考datasheet上给出的相关数据，不建议只是根据一定的芯片测试比较其性能。
其次，对于同一ADC，见上图AD850，input span 3.6V/5V,其标准差反映的是其离散的一个程度，显然input span3.6V对应的离散程度会比5V要大，这个可见你最开始发的两张图片，即input span3.6V的直方图要比input span5V的直方图分布要分散一些。这两者的原因是类似的，可见上面的解释。
好的，十分感谢。
IC性能测试还是依照原厂datasheet，自己做太麻烦。如果性能达不到要求，还是再选取更高性能IC为宜。
