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ADS7818: 器件使用异常现象

Part Number: ADS7818

我没有将ADS7818接到MCU的SPI口,而是使用单片机(mc9s12xf512)的普通IO来进行clk和data的配置。现在采集正负60°行程的角度传感器输出时(即0°~120°对应0~5V),遇到一个问题:

我在采集-35°、-20°、-5、10°、25°、40°附近时(左右2°),位置波动量很大,有10LSB,是一个类似于周期角度的故障波动,在其他角度波动量为3LSB.

我已经排除了角度传感器的问题,目前定位到AD芯片有异常,更换AD芯片后数字量波动就降为3LSB。

请问

①这种故障现象说明AD芯片有哪些地方可能损害呢?

②这种故障现象是否和我的配置方式有关,还是说确实是AD芯片损坏。

  • 您好

    ① 这种故障现象可能说明AD芯片存在以下几种损害情况:

    1. 芯片内部电路损伤‌:可能是由于静电、电压冲击或其他外部因素导致的芯片内部电路损伤,这种损伤可能使得芯片在特定条件下(如特定的输入电压或时钟频率)表现出异常的输出。
    2. 时钟或数据接口不稳定‌:虽然你提到使用的是单片机的普通IO来进行clk和data的配置,但这种非标准的SPI接口方式可能会导致时钟或数据信号的不稳定,进而影响AD芯片的采样精度和稳定性。特别是如果时钟信号存在抖动或相位误差,或者数据信号的传输存在延迟或错误,都可能导致采集到的数据出现波动。
    3. 电源噪声干扰‌:如果AD芯片的电源存在噪声干扰,也可能导致输出数据的波动。这种噪声可能来自于电源本身的不稳定,或者来自于其他电路元件的干扰。

    ② 关于这种故障现象是否和你的配置方式有关,还是确实是AD芯片损坏的问题,可以从以下几个方面进行考虑:

    1. 配置方式的影响‌:你提到的使用单片机的普通IO进行clk和data的配置,这种非标准的SPI接口方式可能会对AD芯片的采样精度和稳定性产生影响。因此,建议首先检查这种配置方式是否符合AD芯片的数据手册要求,并尝试使用标准的SPI接口进行连接,以观察故障现象是否有所改善。
    2. AD芯片本身的性能‌:如果更换AD芯片后数字量波动降为3LSB,这可能说明原来的AD芯片确实存在某种程度的损害或性能下降。然而,这并不能完全排除配置方式的影响,因为即使更换了新的AD芯片,如果配置方式仍然存在问题,也可能导致输出数据的波动。
    3. 其他因素的考虑‌:除了AD芯片和配置方式外,还需要考虑其他可能影响采集精度的因素,如传感器的输出稳定性、电路布局和布线的影响、以及外部环境的干扰等。

    综上所述,建议从以下几个方面进行故障排查和修复:

    • 检查并优化单片机的IO配置方式,确保时钟和数据信号的稳定性和准确性。
    • 尝试使用标准的SPI接口进行连接,并检查相关设置是否符合AD芯片的数据手册要求。
    • 对AD芯片的电源进行滤波和去噪处理,以减少电源噪声对采集精度的影响。
    • 检查传感器的输出稳定性和电路布局的影响,确保整个采集系统的稳定性和可靠性。
  • 请问芯片内部电路损伤会导致这种和角度有关的现象么,关于电源噪声和布线可以排除,因为我已经测量芯片供电和基准电平,波动在1mv左右。

  • 您好

    不排除这个原因,可以通过更换IC来检测。但是不排除基准电平的波动导致。

  • 我更换ad芯片,问题得到了解决,现在想对原故障芯片进行失效分析,请问有什么渠道或者推荐的失效分析或者dpa分析流程

  • 您好

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