经过对比分析发现，购买的DLPNIRNANOEVM模块对标准白板和黑板的测量重复性均不够理想，固定测量位置，用该模块重复测量20次，所得数据的标准方差（SE）远高于对照模块，使用猪肉或者水果样品进行实测，对于同一样品不同测量位置，在1200-1700nm波段，光谱曲线上下波动波幅较大，重复性也不好。
问题如下：
1.一般的光谱模块，每次使用前都需要使用白板和黑板校准，nanoEVM模块没有附带校准板，是否设计上就不需要校准过程？
2.测量重复性不好，光谱曲线波动较大，是否是固件版本问题？升级固件能否解决？或者说是硬件方面的问题？
3.如何评估NANOEVM模块性能是否正常，软硬件系统是否正常运行，有没有对照评估方案？
