根据datasheet，向0xB0,0xB1,0xB2三个寄存器通过i2c进行读写，来产生test pattern；但是，在向IND_ACC_ADDR （0xB1）写入数据0x01成功之后，芯片就无法对任何寄存器进行读写了，重新上电（使用pin PDB）后才能重新对寄存器读写。同样的IND_ACC_ADDR （0xB1）写入数据0x02之后就不影响其他寄存器的读写。请问这是什么原因
根据datasheet，向0xB0,0xB1,0xB2三个寄存器通过i2c进行读写，来产生test pattern；但是，在向IND_ACC_ADDR （0xB1）写入数据0x01成功之后，芯片就无法对任何寄存器进行读写了，重新上电（使用pin PDB）后才能重新对寄存器读写。同样的IND_ACC_ADDR （0xB1）写入数据0x02之后就不影响其他寄存器的读写。请问这是什么原因
