debug 过程
手上有两个测试板，测试流程完全一样，测试结果也完全一样。
1. 最开始按照图中所示的原理图上电测试，iic通讯失败，然后发现原理图错误，主要是VDD_SEL错误。
2. 修改vdd_sel，将其拉低，然后测试发现VDD11 都是1.7v多，而不是1.1v. 这个时候通过iic读取寄存器，仍然错误。
3. 后来将其无源晶振换成有源的24M晶振。发现并没有改变测试结果。
4. 在以前的电路上，将vdd_sel拉高，选择外部供1.1v，然后跳线实现对其vdd11供1.1v。然后测试发现没有变化，iic 通讯仍然错误。
经过示波器的测量发现，iic失败的原因就是DS90UB954没有ack，导致iic通讯中止。
5. 后来换了一个DS90UB954器件，发现IIC通讯不再报错，但是所有能读的寄存器都是0xff。这个0xff说明，iic 通讯时，DS90UB954能够返回ack信号，但是当需要DS90UB954 返回数据时，并没有返回数据。SDA的电平一直处于高电平状态。
问题：
1. 更换前的芯片坏了吗？为什么会损坏？
2. 电路设计上有什么需要特别注意到地方，会导致IIC无法通讯吗？
