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您好,是不是只有I2C接口对地电阻很小,但其他部分功能还正常?
如果这样的话,芯片是否有受到其他外力或者过应力的影响?也就是我们常说的EOS导致芯片功能部分失效,和ESD还是有差别的。
其它引脚阻值正常,数据如下:
如果是EOS,我该测试哪些项目及如何测试,以证明就是EOS引起的呢?
EOS和ESD引起的失效,在放大的情况下能明显的分辨吗?
您好,EOS的原因通常是超出正常工作范围,持续时间比ESD事件长得多的意外施加过电压,这属于电路内事件。
而ESD的原因是大量电荷的释放,属于电路外事件。
如果EOS对器件造成的损坏,严重的话芯片应该会有裂痕,。