这些参数的测试值和规格书中给的值相差很大,有的甚至是负值,不知道是不是有没有给出的测试条件?
还有就是我用LCR测量仪测测试输入输出pin对地的电容值,发现和LCR测量仪器中给的频率有关,是不是意味着这个测试项需要给出特定的测试频率
想问一下这个值大家都是怎么测出来的?
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这些参数的测试值和规格书中给的值相差很大,有的甚至是负值,不知道是不是有没有给出的测试条件?
还有就是我用LCR测量仪测测试输入输出pin对地的电容值,发现和LCR测量仪器中给的频率有关,是不是意味着这个测试项需要给出特定的测试频率
想问一下这个值大家都是怎么测出来的?
您好关于Cio的测试我查了下没有查到相关资料。
看了下Cio的定义如下: 首先它定义为当施加输入条件时器件输入/输出(I/O)端的电容,根据产品电气规格在输出端建立高阻抗状态。
此参数指的是器件输入/输出(I/O)处遇到的内部电容。给出的值不是经生产测试的值。通常,它们是为设计人员提供的典型值。这些值由器件的设计,工艺和封装确定。
希望这个回答能解决您的问题。如有任何疑问,再联系。
您好,您这边说是为设计人员提供的典型值,想问一下这个典型值是以什么作为参考的呢?谢谢
或者说,在芯片生产过程中,设计人员想要获得这个参考值,需要找谁来提供呢
,您这边说是为设计人员提供的典型值,想问一下这个典型值是以什么作为参考的呢?谢谢
您好,我是参考上面Cio的定义,Normally, they are typical values given for the benefit of the designer.
说实话,这个可能涉及到芯片的设计问题了,但是我们没有相关的资料。
在芯片生产过程中,设计人员想要获得这个参考值,需要找谁来提供呢
您好,设计人员在应用这个器件时,直接参考Cio的值就可以了。这个值是根据器件的封装工艺确定的,如果说具体是如何确定的,这个信息可能也不是公开的。
所以我不太明白,您在应用这款芯片时,具体遇到了和Cio相关的什么问题?
在实际应用的时候,发现输入信号和输出信号波形在高频的时候会出现不同程度的失真,想确定芯片的管脚的Ci对信号传输的影响程度
TXS 0104不支持高频的。push pull应用的data rate24Mbps。所以要看下您应用的信号频率是多大?超过24Mbps的速率是不支持的。