工具/软件：
好的一天、
我们已经开发了一个基于 INA597 的高侧电流测量电路。 INA597 之后有 8 个放大级。 由于放大后几级具有高增益、因此即使 INA 的标称失调电压也会导致最后几级饱和。
我们已经尝试了不同的失调电压技术、但最后一次尝试只能暂时将失调电压归零。
我们可以在一对一对应中分享更多详细信息。
期待您的积极回应
此致、
Aditya Ayachit
您好 Gerasimos、
我们绝对需要您的帮助。
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背景：
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我们希望开发一个用于进行电子锁老化测试/老化测试的电路。
实际上、锁在 2 种模式下工作：工作模式和睡眠模式。
制造后和派送每个锁之前都要进行此测试。
根据型号、锁的休眠电流为 15 至 100uA。
有功电流在 400mA 至 1.5A 范围内
我们已经选择了高侧电流测量方法。 尽管与低侧相比难以实现、但我们认为它具有某些优势、有利于倾斜负载。
最终 PCB 具有模拟电路+ MSP430FR2676 + LCD + 3 键。
但目前我们仅研究模拟电路。
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电路说明
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（请参阅 Ageing_Micro_Schematic．pdf）
被测器件的正极端子连接到 J1-1。
负极端子连接到 J1-2。
电路的负载电流流经约 0.363 欧姆（并联 R1-R11）的电阻。
这会在 HP 和 LP 点产生差分电压。
这是 INA597 的输入。
电路的其余部分非常简单。 8 个低失调电压运算放大器 (OPAx191) 以菊花链形式连接。
我们这里假设、由于失调电压较小、后续级不应饱和。
但可以看出、当 INA597 基准引脚接地时、第 5 级向内调节会饱和。
我们还尝试了 e2e.ti.com/.../dcl_5F00_ageing_5F00_v01_5F00_310325_2D00_2025_2D00_06_2D00_18T06_2D00_42.zip
我们之前在“PSpice for TI“中对电路进行了仿真。 如果可能、我们将尝试附加适当的文件。
另一次尝试是通过在基准引脚上添加电路来补偿失调电压。
它确实会修整第 5 至第 8 级的电压、但电压没有保持恒定、稳定地达到饱和状态。
可能有一些我没有适当澄清或混淆的问题。 如果你需要进一步澄清这些问题、请告诉我、我将与你分享这些问题。
期待您的支持。
此致、
Aditya Ayachit
e2e.ti.com/.../Circuit_5F00_calculations.xlsxe2e.ti.com/.../Ageing_5F00_Micro_5F00_Schematic.pdf
您好、Aditya、
以下是用于在两个不同分流器之间切换的概念验证设计。 这里的目标如下。 VCVS1 是差分放大器的理想近似值、可在此处添加 INA597。 电压控制型开关可替换为 FET。
此致、
Gerasimos
