主题: OPA357 中讨论的其他器件
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您好:
我的信号链设计遇到问题、希望 TI 工程师有一些见解。
在我的系统中、我使用带有 DAC (STM32F072x8) 的 MCU、它输出 20Hz 方波、范围为 0V 至 1.65V(即高电平 50ms 和低电平 50ms)。 在这个方波的高电平上、我叠加了一个振幅范围为 1.25V 至 1.65V 的 5kHz 方波。 5kHz 方波在每个高电平期间有 64 个周期。
该信号使用 TLV6001 运算放大器 (GBW 为 1MHz) 通过增益为 2 的闭环同相放大器。 然后、放大的信号被反馈回 MCU 的 ADC 以进行相位测量。 当存在 5kHz 方波时、测量发生在高电平期间、并使用 FFT 来计算相位。
我面临的问题是、随着测量次数的增加、我可以观察到系统的相位逐渐减少、每 100W 测量值大约为 0.1°。 在我目前的制度中、这是一种不可接受的现象。
为了解决这一问题、我尝试了以下方法:
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将 TLV6001 运算放大器替换为 OPA357 (250MHz) 并启用 EN 引脚。
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在每次高电平测量后禁用运算放大器、并在下一次测量之前重新启用运算放大器。
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我还通过移除运算放大器并将 MCU DAC 输出直接连接到 ADC 输入来测试了系统。 在相同的环境条件和测量设置下、相位保持稳定、在多次测量后没有衰减。
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整个测试环境保持在恒定的室温下、测试期间没有温度波动。
我想了解相位衰减的根本原因。 导致此问题的原因是什么?如何解决? 此外、如果我要在 TINA 中对此进行仿真、如何设置仿真以准确地复制此行为?
如果 TI 工程师提供任何指导、我将不胜感激。
谢谢!




