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器件型号: TLV3801
MPN TLV3801DSGT (IC 比较器 1 GEN PUR 8WSON) 在测试期间按照我们的程序手动探测后、会导致 40%的故障率。
在最近的版本中、该比率过去约为 5%。
在我们的电路板上、每个通道使用了两个。
在最近发生的这些事件中、通常只有其中一个正在下降、但由于它们共用相同的输入、我们会在故障发生时替换这两个事件。
然而,我们注意到,使用不同的测试探头品牌,而不是是是德科技,可能已经显示出使用它们的失败少得多!!