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[参考译文] TLV3801:测试探头问题

Guru**** 2875350 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1642399/tlv3801-test-probe-concerns

器件型号: TLV3801

MPN TLV3801DSGT (IC 比较器 1 GEN PUR 8WSON) 在测试期间按照我们的程序手动探测后、会导致 40%的故障率。
在最近的版本中、该比率过去约为 5%。
在我们的电路板上、每个通道使用了两个。  
在最近发生的这些事件中、通常只有其中一个正在下降、但由于它们共用相同的输入、我们会在故障发生时替换这两个事件。
然而,我们注意到,使用不同的测试探头品牌,而不是是是德科技,可能已经显示出使用它们的失败少得多!!
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您不会展示应用的任何原理图、因此很难为您提供有关如何尽可能降低故障率的确切指导。  但是、建议不要将探头直接放置在 IC 引脚上、而是在探头中添加一个串联输入电阻器。