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[参考译文] TLV9101:在引线框前沿暴露铜

Guru**** 2935310 points

Other Parts Discussed in Thread: TLV9101, TLV9102

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1653570/tlv9101-copper-expose-on-the-leadframe-cutting-edge

器件型号: TLV9101
主题中讨论的其他器件: TLV9102

尊敬的 TI 团队:

在对 TI 器件 TLV9101 执行 IQC 检查时、我们发现引线框前沿暴露了铜、不确定根据 TI 标准是否可以接受? 似乎是锯切分离过程引起的、如果这种症状可以接受? 如何避免它在未来? 请帮助检查并尽快回来、tks。

TLV9101 outline.png

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    TLV9101 未采用 10 引脚封装。

    假设这是 TLV9102‍SIRUGR 等其他器件、这是正常现象。 侧面未进行电镀、不应形成焊锡圆角。 一些汽车器件使用额外的制造步骤为 AOI 设置圆角(请参阅适用于汽车应用的可湿性侧面 QFN 封装的值)、但即便如此、某些铜部分仍可能保持外露状态。

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    您好:  

    我同意克莱门斯。 我们过去也有其他关于这一主题的问题。 这是一个类似的查询。  

    https://e2e.ti.com/support/audio-group/audio/f/audio-forum/1595285/rc4558-leads-are-cut-exposing-copper-on-ends-of-leads?tisearch=e2e-sitesearch&keymatch=cut%252520leads#

    此致、  
    Chris Featherstone

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    您好、克莱门斯、克莱门斯、

    感谢您的支持和反馈。

    我将 QFN 端子轮廓称为城堡形端子、在这种情况下、我想得到 TI 关于圆角高度风险的响应(IPC-A-610 第 8.3.4.6 章)、如果 TI 有任何评估或验证数据来解释这种裸露的铜圆角高度没有可焊性风险、最小圆角高度应至少为焊料厚度和级联孔高度之和的 25%或 50%?

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    尊敬的 Wei:  

    我必须联系我们的封装团队。 我的团队是应用团队、我们会帮助解决电路问题并协助进行设计。 我会联系我们的封装团队以获取他们的意见、并在收到回复后做出回复。 这需要一些时间进行研究。  

    此致、  
    Chris Featherstone

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    这些不是腰接终端。 QFN 器件是底部端接元件;请参阅第 8.3.13 节。