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[参考译文] LMH6554：开放式环路互阻抗

admin
Guru**** 2928980 points

Other Parts Discussed in Thread: LMH6554

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/578987/lmh6554-open-loop-transimpedance

部件号：LMH6554

尊敬的支持团队：

我们的客户正在评估LMH6554。
客户设计的电路会影响LMH6554开环互阻抗的特性。

但是，模拟结果与数据表中图22的特征不匹配，因此他想知道以下内容。
1.您能否教我数据表中图22的测量电路图？
2.是否有一个模拟模型将开环特征与图22中的特征相匹配？

此致，
Tachibana先生

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    TI__Guru**** 2928980 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好，

     随附的是一个TINA电路，显示如何模拟LMH6554的Zol。Zol在极高频率下与曲线不完全匹配，但它很接近。

    我们没有在实验室中测量Zol的方法。 图22中所示的曲线是IC级别模拟。 我们可以通过对不同增益，反馈电阻和输出负载进行大量闭环频率响应测试并根据模拟闭环结果进行检查来验证图中的曲线。 如果工作台和模拟之间的闭环结果匹配良好，那么我们对模拟Zol与现实的匹配有高度的信心。

    －Samir

    e2e.ti.com/.../6523.Zol_5F00_Method2.TSC

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    TI__Guru**** 2928980 points
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    您好，Cherian-San，

    感谢您的回复。
    我模拟了您发送的电路，并确认它接近图22中所示的特性。
    顺便说一下，是否有任何方法可以实际测量开放互阻抗的特性(如图22所示)？
    例如，从具有不同增益的闭环电路的特性来看，是否有任何方法可以间接测量开环的特性？

    此致，
    Tachibana先生
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    TI__Guru**** 2928980 points
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    您好Masanori-San，
    在第一个顺序中，您可以改变反馈电阻和闭环增益，并测量频率响应以估计Zol。 复杂的情况是，在高速世界中存在二级效应存在问题，例如反馈电容和输出电容的寄生效应，以及放大器输入电容。 这些影响使分析不再简单。
    要记住的重要一点是，您希望远离Zol曲线中出现的第二极，以获得足够的相余量，因此如果您只需要近似值，而不是过于关注准确性，那么上述方法就可以实现。

    －Samir
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    TI__Guru**** 2928980 points
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    尊敬的Cherian-San：

    感谢您的建议。

    我知道第二极受IC内外寄生元素的影响。
    我也理解它会影响相位余量。

    我会建议客户使用实际IC来评估特征。

    此致，
    Tachibana先生