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[参考译文] LMH6629:带有未端接结构的数据表中的噪声系数曲线

Guru**** 2384860 points
Other Parts Discussed in Thread: LMH6629
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/764114/lmh6629-noise-figure-curve-in-data-sheet-with-unterminated-structure

部件号:LMH6629

最近,我用同相结构(未端接的情况)测试LMH6629的噪声数值。 但是,我无法获取图 58数据表中的数据。 当源阻抗为50欧姆(无终端电阻器)时,噪声数据显示在20 MHz至200 MHz的频率范围内不稳定。 我的问题是,如何获取图 58? 是模拟噪声数值曲线还是测量噪声数值曲线? 如果是测得的噪声数值曲线,那么如何测量未端接的壳体噪声数值?

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    您好,

    您是否完全按照数据表中的图52所示配置了设备? 此外,设备的输入电缆连接了多长时间? 如果您在高频下未端接,如果电缆足够长,则可能会出现反射错误。

    此致,
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    您好,Timmit,

    您的设置是什么?

    通常在测量过程中,不应将电缆绑定到输入端。 只需将图52中的必要电阻器靠近芯片,使用推荐的电源电压滤波器并屏蔽整个电路。 将护罩连接至信号接地。 如果您将电缆连接到输出端,请不要忘记提供串行端接。 当使用50R电缆和具有50R输入电阻的测量设备时,请使用50R系列端接电阻器。

    Kai
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    Jacob,

    我认为我使用的结构与图58中描述的结构相同。 如果RF=240欧姆,rg =27欧姆。 但是,芯片输出端有一个50欧姆系列电阻器,用于匹配频谱分析仪。 已考虑输入电缆,即0.83 dB损耗。 我知道在200 MHz工作时必须有反射。 这就是为什么我要问数据表如何获得这些曲线? 他们是否模拟或测量未端接的NF曲线?
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    我正在使用Y系数方法计算NF。 实验图附后。 通常,我使用两个50欧姆电阻器,它们位于室温和液氮下。 然后,我可以通过使用频谱分析仪HP4395A测量两个噪声基底水平来计算Y值。 使用两个已知的温度和Y值,我可以计算被测设备的噪声数值。 DUT和电阻器之间有电缆,但可通过计算电缆损耗(RG58)来消除。 被测设备的输出直接连接到频谱分析仪。 通过此设置,不同频率(例如30 MHz,50MHz,80 MHz,200 MHz, 对于未终止的病例,显示不稳定,但对于终止的病例则不显示不稳定。 我意识到这可能是因为DUT输入处的阻抗不匹配。 因此,我的做法可能是不正确的。 因此,我想知道,如果图58中的NF曲线(未端接的情况)是模拟的NF曲线还是实际测量值? 如果这是一个真实的测量值,那么我想知道实验设置是什么? 如果是模拟曲线,则我认为它应该与附件中显示的模拟相对应。

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    您好,Timmit,

    我们使用噪声源(我相信它是基于二极管的)和频谱分析仪来测量端接和未端接情况下的噪声数值。 如果您感兴趣,我可以为您提供确切的型号。

    电阻器和被测设备之间的电缆有多长时间? 我想知道未终止的连接是否会导致反射问题,而反射问题可能会显示为不稳定的测量。

    此致,