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我有兴趣在需要 -45C至85C温度范围的应用中使用THS3001-die。 刀版数据表没有技术性能,因此我使用的是封装版本数据表。 此部件的封装版本分为两类:商用(0C至70C)和工业(-45C至85C)。 这些不同的设备或刚刚屏蔽的设备是否不同? 我可以假设包装零件数据表的哪些方面适用于 THS3001-die?
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我有兴趣在需要 -45C至85C温度范围的应用中使用THS3001-die。 刀版数据表没有技术性能,因此我使用的是封装版本数据表。 此部件的封装版本分为两类:商用(0C至70C)和工业(-45C至85C)。 这些不同的设备或刚刚屏蔽的设备是否不同? 我可以假设包装零件数据表的哪些方面适用于 THS3001-die?
您好Edward,
经与各团队成员协商后,我们的结论如下:
根据平均故障间隔时间(MTBF)和故障时间(FFIT )估计值,测试模具并评定其使用温度。 这通常是室温,对于THS3001模具,规定温度为55°C。 与封装设备不同,模具部件不是在温度范围内指定的。 冲模客户将按照自己的设计包装和装配冲模,而选择封装或装配将影响冲模在规格范围内可以执行的温度范围。
考虑到芯片客户选择的各种处理和互操作设计选择,TI并未将性能指定或保证到与封装器件相同的水平。 工业THS3001封装IC的扩展温度范围可能适用于THS3001芯片的功能,但这种可能的行为不能保证。
查看THS3001-die数据表,第一页上的一个小注释指出:“除非德州仪器(TI)另有说明,否则不保证交流性能和超温性能。”
总之,THS3001芯片的性能(包括超温)可以在相同条件下与包装的THS3001的性能保持一致。 尽管可能,但不能向THS3001冲模单元的购买者保证或指定此操作。 为回答您的问题,THS3001封装IC的任何方面都不适用于保证/指定的性能,但可能的结果是设备在温度和其他方面表现相似。 芯片部件与包装部件的关联是正确的(以及为什么有人会购买芯片部件的基础),但销售晶圆芯片的性质禁止对芯片性能进行任何保证或规范。 THS3001-die是THS3001商业或工业封装中的纯芯片变体。
最佳,
Alec