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我们在 可靠性测试板中大量使用了 TI 器件 TLC225x、TLC225xA (TLC2252AID -小外形类型)高级 LinCMOS 轨到轨极低功耗运算放大器作为其测试板电路中的组件之一。
2.最近我们注意到该部件的故障率非常高。
3.我们每天 将安装在可靠性测试板上的此组件置于125°C +5C 的恒定测试室温度下约9小时。
产品数据表显示此部件在自然通风条件下的工作温度 范围为-40°C 至125°C。
5.我的问题是，我们是否看到由于部件在 每天9小时的最大自然通风工作温度范围125°C 下承受应力而出现更高的故障率？
6.将此组件置于 每天9小时125°C 的自然通风工作温度范围内是否会导致产品过早或过早出现故障？
7.如果是，在 我们的可靠性 测试板中，为了延长此部件的使用寿命，建议的理想自然通风工作温度范围是多少？
