主题中讨论的其他器件: LM358B
大家好、
我的客户遇到这样的问题:TL082-Q1 -VIN 端的示波器测试存在干扰波形、LM358B 上的-VIN 端测试没有干扰波形、解决方案是将示波器与大电阻器串联测试、原因是什么?
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您好、Hazel、
我有几个后续问题:
看起来两个通道非常相似、但只有正输入端具有不同的电阻。 我想他们在两个渠道上都看到了这个问题吗?
- VSN_SW、VSP_SW 和 VGL 的电压是多少?
-我假设 VSW_DET = 1.3V 且 VGL_DET = 1.66V?
我想知道、包含示波器探头所引入的电容是否会导致系统不稳定。 您是否注意到在-VIN 上使用示波器探头与没有探头时系统的性能差异?
此致、
Robert Clifton
您好、Robert、
-只有 TL082-Q1存在此问题。
-VSN_SW=-6.5V、 VSP_SW=6.5V、 VGL=-10V
是、 VSW_DET = 1.3V 且 VGL_DET = 1.66V
-示波器探针引入的电容似乎会导致系统不稳定、 当探针和测试点之间串联一个大电阻时、问题消失
我的困惑点是、如果测试异常是由制造过程引起的、这是否意味着 FET 更容易受到干扰、我们建议客户更多地使用 BJT?
谢谢
您好、Hazel、
我本来应该更清楚地说明我的第一点。 我想问 TL082-Q1的两个通道是否都存在此问题?
[引用 userid="495731" URL"~/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1055722/tl082-q1-the-difference-between-tl082-q1-and-lm358b/3909033 #3909033"]我的困惑点是、如果测试异常是由制造过程引起的、这是否意味着 FET 更容易受到干扰、我们建议客户更多地使用 BJT?不一定。 运算放大器的设计用途不同。 带宽、输出电流等因素会改变一个运算放大器的稳定性。 这就是在电路上运行稳定性分析很重要的原因!
客户是否有一个低电容探针、可用于验证是否确实是导致此振荡的探针?
此致、
Robert Clifton
您好、Robert、
TL082-Q1的两个通道都存在此问题。
[引用 userid="322218" URL"~/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1055722/tl082-q1-the-difference-between-tl082-q1-and-lm358b/3909149 #3909149"]客户是否有一个低电容探头、可用于验证是否确实是导致此振荡的探头? [/报价]不、在电阻器解决问题后、他们会更愿意了解原因和随后的选择类型。