[参考译文] OPA2196：输入电压的输入失调电压范围：(V-)&lt；VCM &lt；(V+)–3.0V

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https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/975023/opa2196-input-offset-voltage-for-input-voltages-in-the-range-v--vcm-v-3-0v

器件型号：OPA2196
主题中讨论的其他器件： OPA2191

大家好、团队、

这是该主题 https://e2e.ti.com/support/amplifiers/f/14/p/974719/3600832#3600832的延续、遗憾的是、回答不能回答我的问题。我的客户对区域中显示为"垂直除法的1/3至1/2 "的图形不感兴趣。它们旨在了解输入电压范围(V-)< VCM <(V+)–3.0V 的输入失调电压、其中不包括迹线的蓝色和绿色部分(图44)、我只关注红色部分。

该表的第一行简单地说、对于测试条件"vs=+/-18V"、输入失调电压="+/-25uV 典型值"。
在本问题中、我们将忽略表中与 Vos 相关的其他两行。
那么、现在的问题是：我们可以假设哪一个共模电压适用于该第一行？
数据表中唯一可以继续查看的其他信息是表标题下的注释、其内容为：
'在 TA = kΩ°C、VCM = VOUT = Vs/2、RL = 10k Ω 且连接至 VS/2 (除非另有说明)'

因此、此测试的共模电压似乎为0V；您同意吗？

现在、如果我们看图44、当水平轴读数为0V 时、红线非常接近垂直轴上的0 (UV)线。只需通过眼图、我估计 X=0V 时的红线处于+/-2uV 范围内、它不是正极或负极、它是一个极性或另一个极性(尽管我们不知道确切的是哪一个极性、因为它穿过零轴的位置在布线上未显示)。这比表中引用的+/-25uV (即50uV 跨度)小一个数量级。为了在图形上指示+/-25uV 的值、红线必须在垂直方向上非常厚(0和垂直轴上100uV 线之间距离的一半总厚度)、它必须以0uV 的电压在整个线路中居中。仅供比较、红色曲线表示 Vos 在 VCM<-14V 的图最左侧为负、在 VCM=+12V 时仅为负。

因此、他们的问题可以简化为：
表中列出的测试条件下的输入失调电压是多少、这些条件是：
6.7电气特性：Vs =±4V 至±18V (VS = 8V 至36V)
在 TA = kΩ°C、VCM = VOUT = Vs/2、并且 RL = 10k Ω 连接至 VS/2。

此致、

Renan

4 年多前

0 admin 4 年多前

TI__Guru**** 2390735 points

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µV 在 PDF 中计算矢量坐标、偏移电压大约为−4.5 μ V (共模电压为−15.0V)。

我不知道 e-trim 电路的设计精度。

0 admin 4 年多前

TI__Guru**** 2390735 points

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Renan、您好！

关于您的问题：

因此、他们的问题可以简化为：在表中列出的测试条件下、输入失调电压是多少、这些条件是：
6.7电气特性：Vs =±4V 至±18V (VS = 8V 至36V)
在 TA = kΩ°C、VCM = VOUT = Vs/2、并且 RL = 10k Ω 连接至 VS/2。

电气特性表提供了 TI 为 OPA2196保证的典型值、和/或最小值/最大值。因此、对于部分6.7电气特性标题中规定的条件、TI 保证的电压偏移不超过+/- 100uV。应用部分中的任何典型图形或其他信息(如数据表中的图44)都是出于提供信息的目的提供的、并不构成保证的性能水平。这是电气特性表的工作。

对于 OPA2196等精密放大器、电气特性表中的典型+/-25uV 数是在产品开发和特性化时推导出的单 Σ 数。尽管某些器件在其 VCM 输入范围的一部分可能会有低至+/-2uV 的电压偏移、但它们将在输入 P-ch/N 沟道转换区域中表现出更高的电压偏移。电气特性规格可确保该区域或任何其他 VCM 输入范围内的电压偏移不会超过+/-100uV。

此致、Thomas

精密放大器应用工程

0 admin 4 年多前

TI__Guru**** 2390735 points

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Renan、

在共模电压 Vcm = 0V 时、PMOS 区域的 Vos 规格是±25uV 的典型规格、最大规格为±100uV。这是在 Vs =±18V 的双电源上。在本例中、Vcm 为 Vs/2或1/2或1/2 Vs。当您将共模电压从中间电源移开时、Vos 将从其起始点发生变化。您将看到下面显示的 PMOS 区域有一个 CMRR 规格(以黄色突出显示)。典型规格为140dB 或0.1uV/V、最小规格为120dB 或1uV/V

这意味着、如果器件在 Vcm = 0V 时的 Vos 为25uV、当您以1V 的增量从0V 逐步降低共模电压时、器件可根据140dB 和120dB 的规格分别改变±0.1uV 的典型值或±1uV 的典型值。这将被添加/减去25uV 的初始 Vos。产品数据表中的图1显示了 PMOS 区域内的 Vos 与 VCM 行为、如下所示。

0 admin 4 年多前

TI__Guru**** 2390735 points

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大家好、团队、

你好。

感谢您对此的支持、我的客户只想知道：

关于在测试条件下测量的输入失调电压(Vio)、请参阅以下注释1：他们希望了解该参数对于这些运算放大器的随机样本(例如、1000个器件的数量)的统计范围、以回答以下问题：
该参数的范围是多少、其中包含99%的样本总体？
该参数包含99.9%样本总体的范围是多少？

注1：测试条件如下(表6.7适用条件的限制)：
Vs =+4、-4V。
TA = 25°C
Vcm = VOUT = VS / 2 = 0V。
kΩ= 10k Ω 连接至0V。

此致、

Renan

0 admin 4 年多前

TI__Guru**** 2390735 points

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Renan、您好！

感谢您耐心等待、帮助我们了解您的客户所寻求的确切信息。最后、他们寻求的是专有制造信息。 OPA2196是 OPA2191内核的衍生产品。也就是说、它具有几乎相同的晶体管级设计、封装等这对于寻求出色交流性能、高压多路复用器友好型输入等的客户来说是极好的、但直流精度会稍低(仍然相当好！)。这是因为我们可以以更低的价格提供它、因为我们在晶圆探头和最终生产测试中花费的测试时间(又称为金钱)要少得多。修整为单微伏精度不仅需要更多的测试时间(实现"零"可能是一个缓慢的迭代过程)、还需要更昂贵的测试平台、硬件、插座、仪器等在 TI 根据其数据表限制指定器件的最后一天、如果我们选择这样做、我们只需将超出指定限制的器件修整为刚好在限制范围内的器件- 也不必将每个器件修整为0uV 的目标。修整过程当然会导致非高斯分布、因此您的客户在此处搜索均值和 Σ 并不容易应用。例如、在修整器件时、明显的成本削减措施是先进行最佳猜测、然后修整器件、只要其在限制范围内、您就可以通过器件。高成本最高性能策略将"预览"第一个猜测调整代码、然后测量器件性能、然后迭代预览其他 DAC 调整代码、直到您获得近乎完美的代码(调整分辨率的 LSB)。同样、低成本测试策略可能会对过热性能的修整进行最佳猜测、而高成本策略可能会在测试温度升高的情况下以附加测试插入来测量甚至修整每个单独单元。最后、这些修整算法是 TI 专有信息、TI 保留随时间推移对其进行更改的权利、这可能会导致产品生命周期内出现不同的分布形状。即使在无源器件行业中、这实际上也很常见、在该行业中、对电阻器进行了分类和/或修整以提高容差。在一天结束时、客户应放心、我们的产品将满足数据表电气规格表中列出的数据表规格。我希望这对您有所帮助。 OPA2196和 OPA2191都是深受欢迎的器件、因为它们具有出色的性能和出色的价格优势。

谢谢、

Scott

放大器（参考译文帖）

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