This thread has been locked.
If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.
https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1005953/lm393-regarding-device-aging-and-performance
我与之合作的研究组有兴趣了解 LM393和 TLV431BCD 等器件的老化效应。
例如、我们是否有任何材料(尤其是图形)在以下参数上显示老化的影响？ (如果有其他参数数据，则很好。。。)
LM393： -偏移电压与老化间的关系 -偏置电流与老化间的关系
TLV431BCD -分流电压与老化间的关系
Darren、您好！
我们不知道对 LM393或其姊妹器件的任何长期老化研究。
除非您超出绝对最大输入电压或对器件施加应力、否则我们不认为 LM393上的失调电压或偏置电流会对老化产生任何影响。
这些器件中的电流在微安和纳安范围内、因此对20世纪70年代的波形几何体的应力很小。 因此、任何漂移都完全符合数据表规格、因为 LM393从未真正被视为"精密"器件。
应在低功耗论坛中询问 TLV431问题-因为我无法评论是否对该器件进行了任何研究。
尊敬的 Paul：
我想这有点混乱。 我想知道老化对器件参数的影响(不需要仅仅是偏移/偏置)。
例如、器 件在 xx 个条件下运行 xx 次、呈现了[在此处插入电气特性]值随时间推移而减小或可能随时间推移而增大的趋势。
您能否仔细检查一下、看看是否有这样的信息？ 可能需要离线跟进？
我将在另一个论坛中询问 TLV431、抱歉。
Darren
每个器件都是独特的、并且会因布局、电流密度甚至封装应力而产生不同的影响。 这是一个供设计人员和工艺工程师使用的问题。
我没有发现任何关于长期漂移的生产后研究。 该主题对于精密放大器和参考组可能很有趣、但对于商用 LM393比较器而言不是如此-我怀疑是否有人做过这样的事情。
我能想到的唯一适用的"研究"是作为产品发布过程一部分进行的加速 HTOL (高温使用寿命)测试。
这些测试在300至2000小时内执行、在125°C 的完全偏置条件下、以"老化"器件、测试以特定的时间间隔运行、以寻找班次。 HTOL 结果可能会提供一些线索。 此数据为公司机密信息、不能公开共享-因此、这些数据的任何内容都需要脱机。
您是在所有通用器件上还是仅在 LM393上提出此问题？ 我们可能应该知道最感兴趣的参数。
我将结束此主题、并与您联系、让您在内部遇到一些合适的人、他们可能会回答您的一些问题。
您好 Darren、
也许这里有兴趣
https://slideplayer.com/slide/238666/
Kai
尊敬的 Kai：
感谢您的指示。 我不知道它在那里...
我让 Darren 直接与 Marek 内部沟通、他给了他一份演示文稿副本并回答了他的问题。
再次感谢！
大家好、
是的、这种材料真的很有帮助。
标记"这解决了我的问题"以关闭该主题。
