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https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/881626/opa2189-long-term-stability
请告诉我们 OPA2189的长期稳定性。
真的吗？ 您对什么长期感兴趣？ 即使正在获取数据(不可能)、处于采样模式的器件也会排除此时的实际测量数据(除非您有时间机器)。
我会说、在实验室对斩波器进行的实际测量表明、由于实验室设备的原因、测量出的漂移更有可能。
IC 参数的长期稳定性取决于在高温烤箱中进行的新产品的最高效(HTOL)过程中看到的参数变化。
在规格以零为中心或平均值的情况下、如 Vos、Vos 漂移、Vref、AOL、 等、它们在25°C 时的使用寿命可能超过10年、但以下条件可能会发生变化：
最大(最小) PDS 指定值的+/-100%
如果参数指定为绝对值、例如 Iq、压摆率(SR)、ISC 等、它们可能 会在25°C 时超过10年的使用寿命变化、直至：
最大(最小) PDS 指定值的+/-10%
因此、对于最大初始 Vos 为+/-5uV 且最大漂移为+/-0.05uV/C 的 OPA2189、它们可以分别移动高达+/-5uV 和+/-0.05uV/C。 这意味着、例如、如果特定单元的初始 Vos 为3uV、漂移为0.01uV/C、则 在25°C 下运行10年后、Vos 可能会高达3uV+/-5uV = 8uV 或-2uV、而偏移漂移可能会高达0.01uV/V+/-0.05uV/C = 0.06uV/C 或-0.04uV/C 如需更多信息、请参阅随附的演示文稿。
e2e.ti.com/.../2352.Long_2D00_Term-Stability.ppt
当然、这是一个相当保守的估算-在完整的初始规格范围内具有长期漂移。 对于斩波器、初始25C 值的实际单位单位长期漂移要低得多。
多年来、没有太多的图来测试这一点、但这里有一个-遗憾的是、该图在该人死亡的同一天结束、获取数据。
https://www.renesas.com/us/en/www/doc/application-note/an1729.pdf
是的、Michael 回答正确、具有长期漂移与完整初始规格匹配是一个非常保守的估算、实际参数变化要低得多、尤其是在 OPA2189等斩波放大器中、其中包括漂移在内的 Vos 误差会持续得到校正。 但是、这些是基于 HTOL 测试数据的产品鉴定中使用的最大允许漂移、因此、我们唯一可以放心地说的数字没有泄露每个新产品的实际 HTOL 测量数据、 TI 内部政策禁止我们这样做。
在 LTC2058中、我还在88天内偶然发现了另一个测量的数据图-同样、基本上在初始值处是平坦的、
