[参考译文] 采样计数读数(平均功率测量)

您好 Th。 马希

我们现在将对此进行回顾、并将在今天发回响应。 谢谢你。

最棒的

Peter

嗨、Th。 马希

READ_EIN 命令之间的时间间隔是多少？ ADC 转换时间和平均值计算设置是多少？

如果在不精确的时间间隔发出 READ_EIN 命令、则累加器为每个 READ_EIN 命令处理的样本数将会有所变化。

READ_VIN 命令不应影响 READ_EIN 命令的采样计数。

如果您在 READ_EIN 读数之间更改 ADC 平均设置、则即使您以精确的时间间隔发出 READ_EIN 命令、这也会影响采样数。

最棒的

Peter

你(们)好

我在100ms 和1秒之间改变 READ_EIN 命令之间的时间间隔。

时间间隔不是很精确、但如果之前发出了 READ_VIN 命令、则采样计数会非常不同。

目前、我不使用平均值和1ms 转换时间。 ADC 设置仅在应用程序开始时完成

如果未使用 READ_VIN 命令、则1秒时间间隔的采样计数约为120'000。

但使用 READ_VIN 命令时，样本计数也取决于 READ_VIN 命令和 PRE READ_EIN 命令(延迟1)之间的时间 。

我要执行的步骤：

READ_VIN

延迟1

READ_EIN (PRE)

延迟2.

READ_EIN (POST)->采样计数= DIFF (POST - PRE)

您好！

我在代码中发现一个错误、我未正确提取24位流。 现在工作正常、但我仍然有问题、那就是能量测量受标准寄存器读取的影响。

采样时间为1100ms、未求平均值时、采样计数约为时间的1/2、以 ms 为单位、因此对于1000ms 的延迟、我得到480个采样

ADC 配置命令如下：0xd0、0x27、0x01

我在更改延迟1但恒定延迟2时进行了更多测试。

这表明采样计数=到0.48 *延迟1、与延迟2无关

然后、我在两个样本读数之间放置读取 READ_VIN 命令、如下所示

READ_EIN (PRE)

READ_VIN

延迟2.

READ_EIN (POST)->采样计数= DIFF (POST - PRE)

在此配置中、我始终独立于延迟2测量约18个样本

我还将 READ_VIN 与 READ_MFR_ID 交换、但结果相同

到目前为止、我没有更改 MFR_DEVICE_CONFIG 寄存器并将其保留为默认值。

但是、当我启用 Read_EIN 自动清除功能时、我将读取比后测量更高的预值、并且独立于延迟2、后测量值始终为17左右

10次循环｛READ_EIN (PRE)-> READ_VIN ->延迟2 -> READ_EIN (POST)->采样计数= DIFF (POST - PRE)｝、延迟2从100到1000、步长为100

对于超过200ms 的延迟、预测量约为0.48 *延迟2

后测量在16和18之间非常恒定

您好 Th。 马希

感谢您的介绍。 在您描述的这个循环中、您是否在发出 READ_EIN (POST)命令后执行任何其他操作？ 处理器是否有任何时间用于确定和存储预后= N =采样计数？ 实际上、这不是必需的、因为您在 D5h 中设置了 EIN_AUTO 清零位。

此器件使用的从器件地址是什么？

为什么要尝试向 MFR_ADC_CONFIG (寄存器0x27)的位14写入0位？ 该位始终为0。

您从 Read_EIN 读回哪些值？ 您是否正在考虑翻转字节？

D5h 的 EIN_STATUS 位是什么？

您将 D4H (MFR_CALIBRATION)校准到什么位置？

感谢您的耐心等待。

此致、

Peter

采样计数应该是 delay1的一半(或从一个 READ_EIN 到下一个的时间)。