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[参考译文] LM339:FIT 额定值;单器件和多器件器件解释

Guru**** 1821780 points
Other Parts Discussed in Thread: LMV331, LM339, TL331, LM393
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1163838/lm339-fit-rating-interpretation-with-single-and-multi-device-parts

器件型号:LM339
主题中讨论的其他器件:LMV331TL331LM393

你(们)好。

假设我有一个具有时基故障等级2.2的四路比较器、如 LM399 (LMV331等通用单路比较器的时基故障等级为11.6)。我们现在进行以下讨论

一个论点是:"如果发生故障、4个输入失败、因此最好使用单个压缩、以便只有一个失败。"

反对这种观点的论点是:"四路器件上的共享器件在达到"浴缸底部"时最不可能发生故障、因为现在输入本身由于外部激励而最容易发生故障。 如果其中一个通道因该原因而失败、则只有一个通道会下降、而不是全部四个通道。"

现在我的问题是:

FIT 评级是否是上述指标的良好指标、我是否可以使用它通过数据来关闭该参数?

多器件器件中的共享器件如何影响故障率? 澄清:它们是否最容易、同样也最不容易失败,或者换句话说,上述假设是否正确?

如果是 LM339、我能否在的每个通道之间平均分配 FIT 额定值? 如果不是、原因是什么?

提前感谢

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    一方面、时基故障率适用于整个器件;没有有关器件哪一部分导致故障的信息。

    另一方面、TI 的时基故障率估算工具(ti.com/quality/docs/estimator.tsp)为 LM339‍DR、LM393‍DR 和 TL331‍IDBVR 提供了完全相同的值。 这意味着只有共享器件(电源和偏置电压)发生故障。 我从这一点推断出的唯一事实是,估计是非常保守的,不可能根据这一点提出任何定量的论点。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Matthias、

    这是一个可以在许多层面上讨论的主题。

    故障率是一种统计方法,没有确切的结果。 您尝试根据观察到的故障率得出结论、该故障率从相对较小的批次中获得、并且在测试温度非常高的情况下针对其他未经测试的芯片的一般行为。 您希望以后生产的任何芯片的制造过程与测试批次完全相同。 您希望阿累尼乌斯方程中的激活能量恰好达到故障机制、这是高度任意的、因为损坏可能有许多不同的原因、而激活能量差别很大。

    2.实际故障率不仅取决于制造过程,还取决于焊接和客户的处理。 根据我的经验、芯片因焊接不良或客户处理不良而损坏的可能性远远超过制造过程中的错误。 请记住 Space Shuttle 的板载计算机早期的焊接问题。

    3.客户公布的故障率的目的是什么? 制造商自己发现制造过程中的错误非常重要。 如果客户认为芯片"太多"损坏、则索赔可能会有所帮助。 但损害赔偿的行为非常复杂。 对于客户、公布的故障率有助于估算温度升高时的电路行为。

    4.请注意,任何公布的故障率只能统计大量芯片在特定温度下的运行情况。 但它并不能告诉您手中的混凝土芯片。 该芯片会立即损坏、不仅在芯片已达到其使用寿命的末尾时、还会根据故障率"计算"。 是的、即使是第二个芯片也可能立即损坏、第三个芯片... 完全不能保证每个芯片在"计算"寿命结束之前都表现良好。 好的、多个芯片同时损坏是不可能的、但不是不可能的。 对于您手中的任何单个芯片、都无法保证故障率。

    5、现在有一个有趣的问题:损坏的芯片对您和您的电路有什么具体意义? 它是否会影响仅损坏一个比较器还是损坏四个比较器? 它只是一个成本因素吗? 或者它是否会产生深远的安全后果? 如果这只是一个成本因素、因为您必须对经济损失进行补偿、那么只有一个比较器或四个比较器的损坏将不会产生任何影响。 但如果你生产飞机、导弹或核电站会怎么样? 此类产品是否完全可以承受比较器的损坏? 如果不是、该怎么办? 你在干什么? 然后、您将尝试尽量减少电路中的组件数量、并选择冗余系统。

    Kai

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    再次感谢 Clemens 和 Kai 为您提供的宝贵意见。

    Matthias、

    我认为你的问题的答案是非常主观和微妙的。 与单通道器件相比、四通道器件具有更多的晶体管和复杂性、因此您可以说故障的可能性更大。 如果一个通道发生故障、则可能会影响其他通道的操作和行为。 但是、正如 Kai 提到 的、更有可能从机械和电路板设计方面而不是制造过程中看到故障。 与使用4个单通道器件相比、使用1个四通道器件时出现机械问题和故障的可能性更小。 但在应用/用例中、还有一个因素涉及比较器的用途、这是 Kai 在结尾提到的 如果四通道设备损坏、是否会导致整个系统发生故障? 如果4个单通道器件中只有1个发生故障、系统是否仍能运行? 也许最好使用单独的单通道器件、以便隔离损坏。  很抱歉、 我们无法真正给出确切的答案、但它实际上是 故障的影响以及它对您的系统的意义。  

    -Chi