https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/796144/ina126-too-low-gain
器件型号：INA126尊敬的先生或女士
我偶尔会遇到测量误差、在这种情况下、增益似乎太低。 这有助于更改 INA126、但是由于有2个几乎相同的周期、并且总是相同的周期、所以我怀疑 INA126工作区的边缘有什么问题。
两个电路之间的唯一差异是从 IN-(引脚2)到 REF (引脚5)的电阻。 在"正常"电路中、电阻器为5k1Ohm、在第二个电路中、电阻器大约大10倍。
IN +的输入电阻约为52k 欧姆、RG 为1M 欧姆、RL 为24k 欧姆。
这些电路用于在 PT100传感器上进行测量。
我测量的增益约为4.6、应为5.08。
并不总是马上出现故障、因此可能需要几天的时间才能出现、这使得查找起来更加困难。
希望在座的人能为 我的调查指明正确的方向。
您好、Soren、
了解和解决 导致 INA126高偏移的原因 可能是一个难以解决的问题。 首先、我们需要 您保证 INA126器件是直接从 TI 或 TI 授权经销商处获得的。 如果是这种情况、本产品将 按照严格的 ESD 程序和严格的合规性要求进行组装、处理、测试和封装。 如果 ESD 损坏是问题所在、那么我预计 在器件从其封装和发货时所用的 ESD 保护包装中取出之后的某个时候、就会发生 ESD 损坏。
如果 INA126器件在被安装在 PC 电路板上后仍然未损坏、那么电路内 ESD 或者 电气过载(EOS)事件将是解释随后电气损坏的唯一机制。 通常情况下、5.1千欧或47千欧的极高串联输入电阻将大大限制 ESD 或 EOS 事件期间可能强制流动的输入电流。 与事件相关的电压电平必须非常高、才能导致输入电流电平损坏。 如果发生电路外 ESD 事件、事件持续时间非常有限、 ESD 单元和内部吸收器 件将被激活并消耗与事件相关的功率。 但是、如果 ESD 电压超过+/-500V HBM 额定值、则电池或内部电路可能会损坏。 也可能会出现 CDM ESD 情况、但 INA126未指定该情况、但可能会发生该情况。 在这两种情况下、ESD 损坏 都可能导致 高偏移。
在器件输入、电源引脚或输出上发生的电路内 EOS 事件会 导致器件 损坏。 如果存在 EOS 电势、那么我们通常建议在 发生 EOS 的电路点包含瞬态电压抑制器(TVS)。 在仪表放大器输入端使用的 TVS 器件、例如 INA126、不同于电源引脚上使用的 TVS 器件。 输入保护需要 表现出低电容和低泄漏电流、从而 对 有源电路性能几乎没有影响。 Littelfuse 等公司生产各种 TVS 保护器件。 以下是此类器件的链接：
它们还可产生适用于电源引脚保护的 TVS 器件。 TI 与 Littelfuse 没有关系、我提供此参考仅供参考。 请联系他们以获得有关其电视产品的帮助。
此致、Thomas
精密放大器应用工程
